北京恒奧(ao)德(de)儀(yi)器儀(yi)表有(you)限(xian)公司(si)
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恒奧(ao)德(de)自(zi)動(dong)便(bian)攜(xie)式(shi)SDI汙(wu)染數(shu)測(ce)試(shi)儀恒奧(ao)德(de)自(zi)動(dong)便(bian)攜(xie)式(shi)SDI汙(wu)染數(shu)測(ce)試(shi)儀 型(xing)號(hao)HAD-18011 汙(wu)染數(shu)(SDI)值，也稱之為 FI(Fouling Index)值是(shi)是(shi)水質(zhi) 標(biao)的重(zhong)要參數(shu)之(zhi)。它(ta)表征了水(shui)中顆(ke)粒(li)、膠(jiao)體(ti)和(he)其(qi)他(ta)能阻(zu)塞(sai)各(ge) 種水(shui)純(chun)化(hua)設(she)備(bei)的物(wu)體(ti)的含(han)量(liang)
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雞蛋(dan)鮮度(du)儀 蛋(dan)品檢測(ce)儀1.雞蛋(dan)鮮度(du)儀 蛋(dan)品檢測(ce)儀 型(xing)號：HAD-17934 測(ce)定儀介(jie)紹(shao)： 測(ce)定儀使用(yong)方(fang)便(bian)，只(zhi)需(xu)將儀器(qi) 平穩(wen)設(she)置(zhi)在(zai)測(ce)定臺面上(shang)，轉(zhuan)動(dong)中央測(ce)定 針即可(ke)快(kuai)速，準確讀(du)出濃(nong)厚(hou)蛋(dan)白(bai)度(du)。 測(ce)定度(du)為 1/100mm。根(gen)據(ju)濃(nong)厚(hou)蛋(dan)白(bai)測(ce) 定結果(guo)，使用(yong)蛋(dan)質(zhi)計(ji)算(suan)尺(chi)即可快(kuai)速推(tui)算(suan) 出哈氏(shi)單位(wei)（Haugh Unit） 哈氏(shi)單位(wei)是(shi)根(gen)據(ju)蛋(dan)重和(he)濃(nong)蛋(dan)白(bai)度(du)，按公(gong)式(shi)計算(suan)出其(qi)標(biao)的種(zhong)方(fang)法，可以(yi)衡量(liang)蛋(dan)白(bai)和蛋(dan)的
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魚眼檢測(ce)投影(ying)儀(yi) 薄膜數(shu)量(liang)儀1.魚眼檢測(ce)投影(ying)儀(yi) 薄膜數(shu)量(liang)儀 型號：HADTFT 設(she)備(bei)用(yong)途(tu)：測(ce)量分(fen)析樹脂塑料(liao)薄膜魚眼大小(xiao)和(he)數(shu)量(liang) 執行標(biao)準：GB6595-86、GB/T 11115 和 ASTM 3351-93 等(deng) 作原理(li)：魚眼測(ce)定儀利(li)用(yong)凸透(tou)鏡放大成(cheng)像原理(li)，將薄膜魚眼或缺陷(xian)點投(tou)射(she)放大，並(bing)使用(yong)帶孔(kong)標(biao)準板(ban)行評估薄膜魚眼的大(da)小(xiao)和(he)數(shu)量(liang)。
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金(jin)相(xiang)拋光儀(yi)試(shi)樣腐(fu)蝕(shi)測(ce)試(shi)儀金(jin)相(xiang)拋光儀(yi)試(shi)樣腐(fu)蝕(shi)測(ce)試(shi)儀型(xing)號(hao)：HAD-EP06 HAD-EP06電解(jie)拋光腐(fu)蝕(shi)儀，利(li)用(yong)電化(hua)學(xue)原理(li)行金相(xiang)樣(yang)品的制(zhi)備(bei)。該設(she)備(bei)既(ji)可(ke)用(yong)於(yu)金相(xiang)試(shi)樣的拋光，也(ye)可(ke)用(yong)於(yu)金相(xiang)試(shi)樣的腐(fu)蝕(shi)，具備(bei)制(zhi)樣(yang)快(kuai)，重復(fu)性好(hao)、沒(mei)有(you)機(ji)械的變(bian)形層等(deng)優點，是(shi)有(you)色(se)金屬試(shi)樣、鋼尤(you)其(qi)是(shi)不銹(xiu)鋼制備(bei)金(jin)相(xiang)樣(yang)品的設(she)備(bei)。
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雞蛋(dan)鮮度(du)儀 蛋(dan)質(zhi)測(ce)定儀蛋(dan)白(bai)度(du)計雞蛋(dan)鮮度(du)儀 蛋(dan)質(zhi)測(ce)定儀蛋(dan)白(bai)度(du)計型(xing)號(hao)：H17934 蛋(dan)質(zhi)測(ce)定儀使用(yong)方(fang)便(bian)，只(zhi)需(xu)將儀器(qi) 平穩(wen)設(she)置(zhi)在(zai)測(ce)定臺面上(shang)，轉(zhuan)動(dong)中央測(ce)定 針即可(ke)快(kuai)速，準確讀(du)出濃(nong)厚(hou)蛋(dan)白(bai)度(du)
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新品粉(fen)末振實密度(du)測(ce)試(shi)儀 粉(fen)末電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定儀新品粉(fen)末振實密度(du)測(ce)試(shi)儀 粉(fen)末電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定儀型(xing)號(hao)：H17936 實密度(du)的計(ji)算(suan)公式(shi)：壓(ya)實(shi)密(mi)度(du)=面密(mi)度(du)/材料(liao)的厚(hou)度(du) 在(zai)鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池設計過(guo)程中，壓(ya)實(shi)密(mi)度(du)=面密(mi)度(du)/(片碾(nian)壓(ya)後(hou)的厚(hou)度(du)—集流體(ti)厚(hou)度(du)) ，單位(wei)：g/cm3
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接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀HA/UT521 基(ji)本能(neng) 量(liang)程 接(jie)地電(dian)阻(zu) 0～20Ω ±（2%+10） 0～200Ω / 0～2000Ω ±（2%+3） 接(jie)地電(dian)壓(ya) 0～200Vac（50/60Hz） ±（1%+4） 殊(shu)能(neng) 數(shu)據(ju)保持 √ 背景光
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