解(jie)析(xi)新款(kuan)電阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)結構組成(cheng)性(xing)及(ji)應用

結構組成(cheng)

電阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)主要(yao)由(you)五個(ge)分組成(cheng):(1)數據采(cai)集(ji)系統等，(2)信號發生器和放(fang)大器，(3)變(bian)壓器，(4)樣(yang)品(pin)模具(ju)，(5)小電傳(chuan)感器。

無接觸(chu)電(dian)電阻率(lv)測(ce)定儀(yi)是(shi)基(ji)於變(bian)壓器原理(li)的(de)，見下(xia)圖。

裝在(zai)環形(xing)模具(ju)裏的待測(ce)樣(yang)品(pin)作為(wei)次線圈，當(dang)信號發生器和放(fang)大器在變(bian)壓器的初線圈上(shang)施加(jia)定電壓(ya)時(shi)，由(you)於(yu)電(dian)感應，就(jiu)會在待測(ce)線(xian)圈上(shang)產生恒定的環(huan)形(xing)電壓(ya)U，再(zai)由(you)小(xiao)電(dian)傳(chuan)感器測(ce)得(de)待(dai)測(ce)樣(yang)品(pin)中的(de)環電，根(gen)據(ju)由(you)歐(ou)姆(mu)定律及(ji)樣(yang)品(pin)尺寸(cun)推(tui)導(dao)出(chu)的(de)電阻率(lv)公式(shi)即(ji)可(ke)計(ji)算(suan)得(de)到(dao)待測(ce)樣(yang)品(pin)的電(dian)阻率(lv)。

性及(ji)應用

電阻(zu)率(lv)測(ce)量/控(kong)制型儀(yi)表(biao)，采(cai)用MCU微(wei)控(kong)制器成信號采(cai)集(ji)處(chu)理、自動溫度(du)補償，電(dian)阻率(lv)低限(xian)報(bao)警(jing);衛生316L不銹鋼(gang)電，外(wai)型輕巧(qiao)，價(jia)位適中，儀(yi)表(biao)長(chang)期(qi)運行(xing)穩定、準確(que)、可(ke)靠(kao)。

電阻(zu)率(lv)測(ce)武(wu)儀(yi)

是(shi)四(si)探(tan)針法(fa)測(ce)定電阻(zu)率(lv)的儀(yi)器。它的電氣(qi)原(yuan)理(li)和(he)RM-1A中(zhong)的四(si)探(tan)針法(fa)樣(yang)。但在此用了(le)兩(liang)套(tao)放(fang)大器，分剮(gua)用來測(ce)量低電阻率(lv)和電(dian)阻(zu)卒(zu)的(de)材(cai)料，這樣(yang)就(jiu)使(shi)它的測(ce)量範圍(wei)(0.003-30000歐(ou)姆(mu)·厘(li)米)較(jiao)大所(suo)以，它可(ke)作(zuo)為RM-2的校正(zheng)用。