恒奧德(de)教您如何(he)選購(gou)塗層測厚儀

測厚方(fang)法

磁性(xing)測(ce)厚(hou)法(fa)

適(shi)用導(dao)磁材(cai)料上的非(fei)導(dao)磁層(ceng)厚度(du)測量(liang)。導(dao)磁材(cai)料般(ban)為(wei)：鋼(gang)\鐵\銀(yin)\鎳。此(ci)種方(fang)法測(ce)量(liang)度。

渦流(liu)測(ce)厚(hou)法(fa)

適(shi)用導(dao)電金(jin)屬(shu)上(shang)的非(fei)導(dao)電層(ceng)厚度(du)測量(liang)，此(ci)種方(fang)法較(jiao)磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)法(fa)度低。

聲波測厚法

內還沒有(you)用此(ci)種方(fang)法測(ce)量(liang)塗鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)的，外(wai)個別廠家(jia)有(you)這(zhe)樣(yang)的儀器(qi)，適(shi)用多層塗鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)的測(ce)量(liang)或則是(shi)以(yi)上(shang)兩(liang)種方(fang)法都(dou)無(wu)法測(ce)量(liang)的場(chang)合.但般(ban)價格昂(ang)貴、測量(liang)度也不(bu)。

電解(jie)測(ce)厚(hou)法(fa)

此(ci)方(fang)法有(you)別(bie)於(yu)以(yi)上(shang)三(san)種，不(bu)屬(shu)於(yu)無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)，需要破壞塗鍍(du)層(ceng)，般(ban)度(du)也不，測(ce)量(liang)起(qi)來(lai)較其他(ta)幾(ji)種麻(ma)煩(fan)。

放(fang)射(she)測(ce)厚(hou)法

此(ci)種儀器(qi)價格非(fei)常(chang)昂(ang)貴（般(ban)在10RMB以(yi)上(shang)），適(shi)用於(yu)些(xie)特(te)殊場合(he)

選型方(fang)法

用戶可(ke)以(yi)根據(ju)測(ce)量(liang)的需要選用不(bu)同(tong)的測(ce)厚儀，磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀和(he)渦流(liu)測(ce)厚(hou)儀般(ban)測(ce)量(liang)的厚(hou)度適(shi)用0-5毫米(mi)，這(zhe)類儀器(qi)又(you)分(fen)探頭(tou)與(yu)主機(ji)體(ti)型，探頭(tou)與(yu)主機(ji)分(fen)離型(xing)，前者(zhe)操(cao)作便捷(jie)，後者(zhe)適(shi)用於(yu)測(ce)非(fei)平(ping)面(mian)的外(wai)形(xing)。更(geng)厚的致(zhi)密(mi)材(cai)質材(cai)料要用(yong)聲波測厚儀來(lai)測(ce)，測量(liang)的厚(hou)度可(ke)以(yi)達(da)到0.7-250毫米(mi)。電(dian)解(jie)法(fa)測(ce)厚(hou)儀適(shi)合測量(liang)很細的線(xian)上面(mian)電鍍(du)的金(jin)，銀(yin)等(deng)金屬(shu)的厚(hou)度。

兩(liang)用型(xing)

體兩(liang)用型(xing)

體兩(liang)用型(xing)(4張(zhang))

儀器(qi)由(you)德(de)生產，集(ji)合(he)了磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀和(he)渦流(liu)測(ce)厚(hou)儀兩(liang)種儀器(qi)的能(neng)，可(ke)用(yong)於(yu)測(ce)量(liang)鐵及非(fei)鐵(tie)金屬(shu)基(ji)體(ti)上(shang)塗層的厚(hou)度。如：

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅(xin)等(deng)電鍍(du)層(ceng)或(huo)油漆(qi)、塗料、搪(tang)瓷等(deng)塗層厚度。

* 鋁、鎂材(cai)料上陽(yang)氧化膜(mo)的厚(hou)度。

* 銅、鋁、鎂、鋅等(deng)非(fei)鐵(tie)金屬(shu)材(cai)料上的塗層厚度。

* 鋁、銅、金等(deng)箔(bo)帶材(cai)及紙(zhi)張(zhang)、塑(su)料膜(mo)的厚(hou)度。

* 各(ge)種鋼(gang)鐵(tie)及非(fei)鐵(tie)金屬(shu)材(cai)料上熱(re)噴塗層的厚(hou)度。

儀器(qi)符(fu)合家(jia)標準GB/T4956和(he)GB/T4957，可(ke)用(yong)於(yu)生產檢(jian)驗(yan)、驗(yan)收檢(jian)驗(yan)及(ji)質(zhi)量(liang)監督(du)檢(jian)驗(yan)。

分(fen)體兩(liang)用型(xing)

分(fen)體兩(liang)用型(xing)(4張(zhang))

儀器(qi)特(te)點(dian)

采用雙能(neng)內置式探(tan)頭(tou)，自動識(shi)別(bie)鐵基(ji)或(huo)非(fei)鐵(tie)基(ji)體(ti)材(cai)料，並(bing)選擇相(xiang)應(ying)的測(ce)量(liang)方(fang)式行(xing)確測(ce)量(liang)。

符(fu)合人(ren)體程(cheng)學(xue)設(she)計的雙(shuang)顯示(shi)屏(ping)結構(gou)，可(ke)以(yi)在何(he)測(ce)量(liang)位(wei)置讀取測量(liang)數(shu)據(ju)。

采用手機(ji)菜(cai)單式能(neng)選擇方(fang)式，操(cao)作十(shi)分(fen)簡(jian)便。

可(ke)設(she)定上(shang)下限值，測量(liang)結果出或(huo)符(fu)合上(shang)下(xia)限數(shu)值(zhi)時，儀器(qi)會(hui)發出相(xiang)應(ying)的聲音或閃爍燈(deng)提(ti)示(shi)。

穩(wen)定性(xing)*，通(tong)常(chang)不(bu)校(xiao)正(zheng)便可(ke)長(chang)期使用。

術規(gui)格

量(liang) 程(cheng)： 0～2000μm ,

電 源(yuan)： 兩(liang)節5號電(dian)池

標準配(pei)置

常(chang)規(gui)型(xing)

對材(cai)料表(biao)面(mian)保(bao)護、裝飾形(xing)成(cheng)的覆(fu)蓋(gai)層，如塗層、鍍(du)層(ceng)、敷層、貼(tie)層(ceng)、化學生成(cheng)膜(mo)等(deng)，在有(you)關(guan)家(jia)和(he)標準中稱(cheng)為(wei)覆(fu)層(ceng)（coating）。

覆(fu)層(ceng)厚度測量(liang)已(yi)成(cheng)為(wei)業(ye)、表(biao)面(mian)程(cheng)質(zhi)量(liang)檢(jian)測(ce)的重(zhong)要環(huan)，是(shi)產品(pin)達(da)到優等(deng)質量(liang)標準的手(shou)段。為(wei)使(shi)產(chan)品化(hua)，我(wo)出口(kou)商品和(he)涉(she)外(wai)項目中，對(dui)覆(fu)層(ceng)厚度有了(le)明(ming)確的要(yao)求。

覆(fu)層(ceng)厚度的測(ce)量(liang)方(fang)法主要(yao)有(you)：楔(xie)切(qie)法，光截(jie)法(fa)，電(dian)解(jie)法(fa)，厚(hou)度(du)差測(ce)量(liang)法，稱(cheng)重(zhong)法，X射(she)線(xian)熒(ying)光法(fa)，β射(she)線(xian)反(fan)向(xiang)散(san)射(she)法(fa)，電(dian)容法(fa)、磁(ci)性(xing)測(ce)量(liang)法及渦(wo)流(liu)測(ce)量(liang)法等(deng)。這(zhe)些方(fang)法中前五種是(shi)有損(sun)檢(jian)測(ce)，測(ce)量(liang)手段繁(fan)瑣，速度慢，多(duo)適(shi)用於(yu)抽(chou)樣(yang)檢(jian)驗(yan)。

X射(she)線(xian)和(he)β射(she)線(xian)法是(shi)無(wu)接觸無(wu)損(sun)測(ce)量(liang)，但裝置復雜昂貴，測量(liang)範圍較(jiao)小。因有放(fang)射(she)源(yuan)，使(shi)用(yong)者(zhe)須(xu)遵(zun)守射(she)線(xian)防(fang)護規範。X射(she)線(xian)法可(ke)測(ce)薄鍍(du)層(ceng)、雙(shuang)鍍(du)層(ceng)、合(he)金(jin)鍍(du)層(ceng)。β射(she)線(xian)法適(shi)合鍍(du)層(ceng)和(he)底材(cai)原子(zi)序(xu)號大(da)於(yu)3的鍍(du)層(ceng)測(ce)量(liang)。電容法(fa)僅在薄(bo)導(dao)電體(ti)的緣(yuan)覆(fu)層(ceng)測厚時采(cai)用(yong)。

隨著術的日(ri)益步，特(te)別(bie)是(shi)近年來引(yin)入(ru)微(wei)機(ji)術後，采(cai)用(yong)磁性(xing)法(fa)和(he)渦流(liu)法(fa)的測(ce)厚儀向(xiang)微(wei)型(xing)、智(zhi)能(neng)、多(duo)能(neng)、度(du)、實(shi)用(yong)化(hua)的方(fang)向(xiang)了(le)步(bu)。測量(liang)的分(fen)辨率已(yi)達(da)0.1微(wei)米(mi)，度(du)可(ke)達(da)到1%，有了大幅度的提(ti)。它適(shi)用範圍廣(guang)，量(liang)程(cheng)寬(kuan)、操(cao)作簡(jian)便且價廉，是(shi)業(ye)和(he)科研使(shi)用(yong)廣泛的測(ce)厚儀器(qi)。

采用無(wu)損(sun)方(fang)法既不破(po)壞覆(fu)層(ceng)也不破壞(huai)基(ji)材(cai)，檢(jian)測(ce)速(su)度(du)快，能(neng)使(shi)大(da)量(liang)的檢(jian)測(ce)作(zuo)經(jing)濟(ji)地行(xing)