解(jie)析顆粒強度(du)測定儀(yi)使(shi)用(yong)方法以及註意事項(xiang)

顆粒強度(du)測定儀(yi)是(shi)2011年(nian)新(xin)產(chan)品(pin),采(cai)用(yong)的傳感測量,實現(xian)數(shu)字(zi)顯示的新(xin)型(xing)儀(yi)器,適於圓狀(zhuang)或(huo)圓柱(zhu)狀的顆(ke)粒料(liao)抗(kang)壓(ya)碎(sui)強度(du)測定。該儀(yi)器有體(ti)積小(xiao)、測量值直(zhi)讀(du)、度(du)、使(shi)用(yong)方便等優(you)點,是(shi)化(hua)肥、藥(yao)品(pin)、催(cui)化(hua)劑(ji)、顆(ke)粒等樣品(pin)強(qiang)度(du)測定較為理想(xiang)的新(xin)代試驗儀(yi)器。

顆粒強度(du)測定儀(yi)是(shi)用(yong)來測(ce)定各種形(xing)態(tai)顆(ke)粒的破碎(sui)時強(qiang)度(du)大值。數(shu)字(zi)顯示，自(zi)動清零(ling)，具(ju)有(you)啟動鍵，清零(ling)鍵和打(da)印鍵。

​顆粒強度(du)測定儀(yi)設置參(can)數(shu)及操(cao)作說明:  

1. 量程:根(gen)據(ju)裝(zhuang)配的壓(ya)力傳感器量程,在程序(xu)上輸(shu)入(ru)選儀(yi)器測試範圍。

2. 儀(yi)器標定:在調試(shi)程序(xu)上設(she)定標定值,再(zai)放(fang)上相(xiang)應(ying)的標(biao)準碼,顯示數值和(he)標(biao)定碼相同(tong).

3. 靈敏度(du):因為客戶的測(ce)量樣品(pin)有(you)軟和硬(ying), 要(yao)求的靈(ling)敏度(du)可(ke)能(neng)與(yu)我(wo)們(men)需(xu)要(yao)的不(bu)樣(yang)，儀(yi)器靈敏度(du)分(fen)1-9檔(dang)，數值(zhi)越(yue)大越(yue)敏感,般選用(yong)7-8檔(dang)，根(gen)據(ju)具(ju)體(ti)情(qing)況(kuang)自(zi)行修改。

4. 語言:儀(yi)器已批(pi)量出口，分(fen)中英(ying)文顯示打印輸(shu)出(chu)的語言.

使(shi)用(yong)方法
1 、逆時針旋(xuan)轉(zhuan)手輪,使(shi)加力桿上移,接(jie)通電源,顯示器顯示00.0, 如顯示其它數值(zhi),應(ying)反(fan)復按(an)清零(ling)鍵, 直到(dao)數字(zi)顯示為 00.0。

2 、將試(shi)驗樣品(pin)置於樣(yang)品(pin)盤(pan)中心(xin)位(wei)置,再(zai)順(shun)時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉(zhuan)手輪,將加力桿下(xia)移,當(dang)加力桿接(jie)近(jin)樣品(pin)時(shi), 按(an)下(xia)峰值保(bao)持鍵, 此時(shi)峰值保(bao)持示(shi)燈亮(liang), 再(zai)繼續慢慢旋(xuan)轉(zhuan)手輪, 此(ci)時(shi)顯示器已有數(shu)據(ju)顯示,並隨著(zhe)試(shi)驗力的增(zeng)加而增大,當樣(yang)品(pin)顆(ke)粒破碎(sui)時,受(shou)力的大數值(zhi)(強(qiang)度(du)值)即(ji)被鎖定。直接(jie)顯示度(du)值.

3 、繼續試(shi)驗時,將樣(yang)品(pin)盤(pan)中的殘(can)留物(wu)清除(chu),按(an)下(xia)峰值保(bao)持鍵, 解(jie)除(chu)峰值保(bao)持,數(shu)字(zi)恢復顯示為 00.0, 同時(shi)峰值保(bao)持示(shi)燈熄(xi)滅(mie), 且按(an)下(xia)清零(ling)鍵, 直到(dao)數字(zi)顯示為 00.0。

4 、當樣(yang)品(pin)強(qiang)度(du)過大,顯示數值過(guo)500N, 再(zai)及(ji)時(shi)退出, 以防損壞(huai)傳感器,此時顯示器鎖定的為無效(xiao)數(shu)值(zhi)。

註(zhu)意事項(xiang)
1、未(wei)通電時,不得隨便(bian)順(shun)時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉(zhuan)手輪,使(shi)加力桿與樣(yang)品(pin)盤(pan)接(jie)觸(chu)受(shou)力,以免(mian)因過(guo)載(zai)而損壞(huai)傳感器。

2、試驗結束(shu)時(shi),也(ye)應(ying)註意加力桿遠離(li)樣(yang)品(pin)盤(pan),確(que)認其處(chu)於非(fei)受(shou)力狀(zhuang)態,方可(ke)關閉電源。

3、測定樣品(pin)強(qiang)度(du)前, 應(ying)將樣(yang)品(pin)盤(pan)清理(li)幹(gan)凈, 放(fang)好樣品(pin)盤(pan)和盤(pan)中心(xin)的強(qiang)力柱(zhu), 再(zai)按(an)清零(ling)鍵, 內(nei)數據(ju)自(zi)動恢復, 直到(dao)數(shu)字顯示為 00.0。

4、當受(shou)力大於500N,應(ying)及時(shi)逆時(shi)針旋(xuan)轉(zhuan)手輪,使(shi)加力桿與樣(yang)品(pin)分(fen)離(li),結(jie)束本(ben)次(ci)試驗。

5、試驗過程中,在順時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉(zhuan)手輪時(shi),不(bu)得(de)突然逆(ni)時針旋(xuan)轉(zhuan)手輪減力(量程報警(jing)時(shi)除(chu)外),否(fou)則(ze)儀(yi)器會(hui)誤判為樣品(pin)已(yi)破碎(sui)而鎖定無效(xiao)數(shu)值(zhi)。

6、試(shi)驗過程中,當(dang)顆(ke)粒已受(shou)力,應(ying)盡量緩慢旋(xuan)轉(zhuan)手輪,使(shi)力上升(sheng)的速(su)率(lv)盡可(ke)能(neng)低(di),這(zhe)樣可(ke)保(bao)證(zheng)測(ce)量度(du),比如(ru)某(mou)樣品(pin)的顆(ke)粒實際(ji)強(qiang)度(du)為50N,而力的上升(sheng)速(su)率(lv)較,假(jia)設(she)為10N/秒,由(you)於本(ben)儀(yi)器A/D采(cai)樣頻率(lv)約(yue)為5次(ci)/秒,則(ze)儀(yi)器有可(ke)能(neng)測(ce)量為48N左右(you),如降為1N/秒,則(ze)測(ce)定值相(xiang)應(ying)在49.8N左右(you)。