恒(heng)奧德為您(nin)講(jiang)如何選購(gou)解斯(si)計(ji)以及(ji)註(zhu)意事項

斯(si)計(ji)，是(shi)測量(liang)物(wu)體於(yu)空(kong)間(jian)上(shang)個點(dian)的靜(jing)態或(huo)動(dong)態(交(jiao))磁(ci)感(gan)應強(qiang)度(du)， 由霍爾(er)傳感(gan)器(qi)(度更可(ke)選擇(ze)磁通(tong)門傳(chuan)感(gan)器(qi)).經過(guo)物(wu)體(ti)磁(ci)力(li)線(xian)穿過產(chan)生電電壓，主設備(bei)上面(mian)顯(xian)示(shi)磁感(gan)應強(qiang)度(du)。

斯(si)計(ji)需要(yao)能(neng)夠測量(liang)恒(heng)定磁(ci)場(chang),直(zhi)磁場與(yu)交(jiao)磁(ci)場(chang)和(he)脈沖(chong)磁場的(de)能(neng)。 同時(shi)由於(yu)智能(neng)制(zhi)發(fa)展(zhan)斯(si)計(ji)需要(yao)能(neng)夠與自動(dong)化設(she)備(bei)有交(jiao)互(hu)能(neng)，因(yin)而(er)485通訊(xun)與開關(guan)量(liang)端(duan)口,模(mo)擬(ni)信號(hao)端(duan)口成(cheng)為。

現(xian)如(ru)今市(shi)場斯(si)計(ji)隨著步，已(yi)經由原有的模(mo)擬(ni)電路(lu)轉化成(cheng)STC單(dan)片(pian)機的方案(an)，近年(nian)來隨著(zhe)斯(si)計(ji)能(neng)增強(qiang)，內(nei)程(cheng)序的復(fu)雜程度(du)也提了。開始采(cai)用(yong)內核(he)是(shi)Cortex-M3的(de)32位ARM微(wei)控制(zhi)器的(de)智能(neng)斯(si)計(ji)。在采(cai)樣速(su)度(du)以(yi)及(ji)程(cheng)序(xu)穩(wen)定性(xing)都(dou)得(de)以(yi)提。

選型(xing)註(zhu)意
斯(si)計(ji)的選型(xing)應從測量(liang)對象入手，考(kao)慮(lv)以(yi)下幾個(ge)方面(mian):

a、磁(ci)場(chang)類(lei)型(xing):磁場(chang)分(fen)為直(zhi)磁(ci)場和(he)交(jiao)磁(ci)場(chang)兩(liang)種(zhong)，磁材料磁(ci)場強(qiang)度(du)應選用(yong)直斯(si)計(ji)測量(liang);

b、儀(yi)器量程:明(ming)確(que)被(bei)測對象的大(da)概(gai)磁(ci)場(chang)範(fan)圍(wei)，選擇(ze)儀器(qi)的(de)量(liang)程範圍(wei)應大(da)於(yu)被(bei)測量(liang)磁(ci)場;

c、測量(liang)度(du):儀器的分(fen)辨率，如(ru)分(fen)辨率是(shi) 1Gs 或(huo)者 0.1Gs 等(deng);

d、探(tan)頭(tou)選擇(ze):通常(chang)儀(yi)器(qi)廠(chang)家的(de)測試(shi)探(tan)頭(tou)都有多(duo)種(zhong)不同(tong)規格，以滿足(zu)各(ge)種(zhong)不同(tong)測試(shi)要(yao)求(qiu)，測量(liang)表(biao)面磁場強(qiang)度(du)通(tong)常不需(xu)要(yao)考(kao)慮(lv)探(tan)頭(tou)規格。

①氣隙磁(ci)場測量(liang):應訪(fang)考慮探(tan)頭(tou)的尺寸(cun)大(da)小，如探(tan)頭(tou)尺寸(cun)大(da)於(yu)被(bei)測氣隙，則無(wu)法入到(dao)被(bei)測的(de)氣隙中，從而(er)無法(fa)使用(yong);

②探(tan)頭(tou)方向(xiang)選擇(ze):探(tan)頭(tou)方向(xiang)分(fen)橫向(xiang)和(he)軸(zhou)向(xiang)兩(liang)種(zhong)，用(yong)戶(hu)在探(tan)頭(tou)選擇(ze)時(shi)應根(gen)據(ju)被(bei)測對象考慮(lv)選擇(ze)適應的(de)探(tan)頭(tou);

③探(tan)頭(tou)連(lian)接(jie)線(xian):儀器廠(chang)家探(tan)頭(tou)線(xian)纜(lan)的長(chang)度通常(chang)是(shi)固(gu)定的(de)，如(ru)有殊測量(liang)要(yao)求(qiu)，需(xu)延(yan)長(chang)或縮短(duan)探(tan)頭(tou)線(xian)時(shi)，應向(xiang)廠(chang)家提出(chu)。斯(si)計(ji)

e、供(gong)電(dian)方式(shi):臺(tai)式(shi)斯(si)計(ji)通常采(cai)用(yong)交(jiao) 220V 供(gong)電(dian)，便攜式(shi)斯(si)計(ji)采(cai)用(yong)電池(chi)供(gong)電(dian)。

f、能(neng)選擇(ze)

①常規能(neng):性判斷、大值鎖(suo)定等(deng);

②便(bian)攜(xie)性:如需(xu)戶(hu)外(wai)操(cao)作或現(xian)場(chang)測量(liang)，可(ke)選擇(ze)便攜(xie)性(xing)較(jiao)好的掌(zhang)上(shang)斯(si)計(ji)(便攜式)，此(ci)類(lei)儀(yi)器體(ti)積小，重(zhong)量輕(qing)，采(cai)用(yong)電池(chi)供(gong)電(dian);

③線(xian)快速(su)測量(liang):儀(yi)器具有上、下限(xian)設置(zhi)及(ji)報(bao)警(jing)能(neng);

④交(jiao)磁(ci)場(chang)測量(liang):用(yong)於(yu)測量(liang)低(di)頻( 1 - 400Hz )交(jiao)變(bian)磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)的(de)大小;

註(zhu)意事項
:斯(si)計(ji)使用(yong)方法(fa)

1.連(lian)接(jie)好(hao)霍(huo)爾(er)頭(tou)和(he)儀(yi)器(qi)

2.開機(ji):按POWER電(dian)源(yuan)按鈕，接(jie)通(tong)電(dian)源(yuan)。

3.按紅(hong)色(se)按鈕選擇(ze)對應量(liang)程。

4.零點(dian)校對:用(yong)字螺(luo)絲刀調(tiao)節(jie)儀(yi)器(qi)背(bei) 的"調(tiao)零"。

5.磁場(chang)測試(shi)，單(dan)位為毫(hao)斯(si)拉。顯(xian)示(shi)"-"是(shi)則探(tan)頭(tou)對著N。

6.紅色(se)按鈕為量(liang)程(cheng)，按下(xia)時(shi)為2000mT，否(fou)則為200mT。

7.測量(liang)時(shi)用(yong)霍爾(er)芯(xin)片(pian)接觸(chu)磁鋼(gang)表面(mian)，測試(shi)結(jie)果(guo)接近於(yu)實(shi)際值，用(yong)基(ji)板(ban)面(mian)測量(liang)，測試(shi)結(jie)果(guo)偏低(di)。

二(er):儀器校準(zhun)

將霍(huo)爾(er)頭(tou)置(zhi)於(yu)標(biao)準磁(ci)場中，用(yong)字螺(luo)絲刀調(tiao)節(jie)儀(yi)器(qi)背(bei)"校準(zhun)"電位器，直到(dao)和(he)標(biao)準磁(ci)場數(shu)值(zhi)致(zhi)。

註意:霍(huo)爾(er)頭(tou)基(ji)板(ban)刻(ke)度在測量(liang)時(shi)對著自己，方向(xiang)垂(chui)直(zhi)於(yu)測量(liang)平面(mian)。