解析渦流導(dao)電儀(yi)便(bian)攜式渦流導(dao)電儀(yi)金(jin)屬導電(dian)率(lv)兩(liang)種(zhong)方(fang)法原理(li)

金(jin)屬導電(dian)率(lv)的測量有兩(liang)種(zhong)方(fang)法

壹(yi)是(shi)用(yong)傳(chuan)統的電橋法，將(jiang)金屬材料(liao)拉(la)絲並截(jie)取(qu)規(gui)定(ding)的壹(yi)段(duan)，然後搭橋測試(shi)其(qi)導(dao)電(dian)率(lv)，該(gai)方(fang)法因(yin)為(wei)操(cao)作繁瑣，耗費人(ren)力(li)和(he)時間，精度也(ye)無(wu)法保(bao)證，因此在(zai)實踐中(zhong)可行性不大(da)。此方法也(ye)並(bing)未被(bei)現(xian)行國(guo)標(biao)所采用(yong)。

二(er)是用儀(yi)器(qi)測量， 即數字便(bian)攜式渦流電(dian)導儀(yi)。該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)應(ying)用渦流檢(jian)測原理(li)，依(yi)據電(dian)工(gong)行業的工(gong)件(jian)導電(dian)率(lv)要(yao)求(qiu)而(er)專(zhuan)門設計，用(yong)來測量有色(se)金屬電導(dao)率(lv)的無(wu)損(sun)檢(jian)測儀(yi)器(qi)。 用(yong)渦流導(dao)電儀(yi)測試(shi)金屬導電(dian)率(lv)的方法簡(jian)便(bian)易行，便(bian)於(yu)企業(ye)及(ji)研(yan)究機(ji)構在(zai)生(sheng)產(chan)線(xian)、外部質(zhi)檢(jian)使用(yong)，該(gai)方(fang)法在(zai)導(dao)電率(lv)測試(shi)國(guo)標(biao)中(zhong)有明(ming)確(que)說明(ming)。

1.渦流儀(yi)的基本原理(li)

渦流儀(yi)基於(yu)渦流感(gan)應原理(li)工(gong)作。當渦流儀(yi)靠(kao)近導電(dian)材料(liao)時，材料(liao)農(nong)面(mian)會(hui)產(chan)生(sheng)渦這些渦流在(zai)導(dao)曳材料(liao)的內部流動(dong)，並且(qie)會(hui)受到(dao)缺(que)陷或異物(wu)的影響(xiang)，從而改(gai)變(bian)滿(man)為(wei)強(qiang)度(du)和(he)分(fen)布。渦流儀(yi)通(tong)過(guo)測量這些變(bian)化(hua)來判斷(duan)材料(liao)的質(zhi)量(liang)狀(zhuang)況(kuang)。

2.1 準備(bei)工(gong)作

在(zai)使(shi)用渦流儀(yi)之(zhi)前(qian)，需要(yao)對(dui)儀(yi)器(qi)進(jin)行準備(bei)工(gong)作。首(shou)先(xian)，根(gen)據待測材料(liao)的特(te)性選(xuan)擇(ze)合適的探(tan)頭。不同的材料(liao)可(ke)能需要(yao)不同類型和(he)尺寸(cun)的探(tan)頭。其(qi)次(ci)，確(que)保儀(yi)器(qi)的電源(yuan)和(he)信號(hao)連(lian)接良(liang)好(hao)。最(zui)後，進行儀(yi)器(qi)的校(xiao)準和初(chu)始化(hua)，以(yi)確(que)保測量結果的準確(que)性。

2.2 測量操作

進行測量前，應先(xian)將(jiang)渦流儀(yi)和(he)待(dai)測材料(liao)的表面(mian)清(qing)沽(gu)幹(gan)凈(jing)，以(yi)避(bi)免雜質(zhi)對(dui)測量結的幹(gan)擾(rao)。然後，將渦流儀(yi)的探(tan)頭靠(kao)近材料(liao)表(biao)面(mian)，逐漸(jian)移(yi)動(dong)探(tan)頭，使其(qi)覆蓋整(zheng)個測區(qu)域。在(zai)移(yi)動(dong)探(tan)頭時，需要(yao)保(bao)持勻(yun)速(su)和(he)穩定(ding)，避(bi)免過(guo)快或過慢(man)，以(yi)免影響(xiang)測量結的準確(que)性。同時，需註(zhu)意探(tan)頭和材料(liao)表(biao)面(mian)的與法線(xian)角度(du)，過(guo)大(da)或(huo)過(guo)小(xiao)的角度(du)都(dou)可造成測量偏(pian)差。