北京恒奧德(de)儀器(qi)DL3型(xing)顆(ke)粒強(qiang)度(du)測(ce)定儀使用(yong)方(fang)法(fa)註(zhu)意(yi)事(shi)項

使用(yong)方(fang)法(fa)

1 、逆(ni)時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪,使加力桿(gan)上(shang)移(yi),接通(tong)電源,顯示(shi)器(qi)顯示(shi)00.0, 如顯示(shi)其(qi)它(ta)數(shu)值,應(ying)反(fan)復(fu)按(an)清零(ling)鍵, 直(zhi)到數(shu)字顯示(shi)為(wei) 00.0。

2 、將試(shi)驗樣(yang)品(pin)置於(yu)樣(yang)品(pin)盤(pan)中(zhong)心(xin)位置,再(zai)順時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪,將加力桿(gan)下(xia)移(yi),當加力桿(gan)接(jie)近(jin)樣(yang)品(pin)時, 按壹下(xia)峰值保持鍵, 此時峰值保持指(zhi)示燈亮(liang), 再(zai)繼續(xu)慢慢旋(xuan)轉手輪, 此時顯示(shi)器(qi)已有(you)數(shu)據顯示(shi),並(bing)隨(sui)著(zhe)試(shi)驗力(li)的增(zeng)加而增(zeng)大(da),當(dang)樣(yang)品(pin)顆(ke)粒破碎時,受力的最(zui)大(da)數(shu)值(強(qiang)度(du)值)即(ji)被(bei)鎖(suo)定(ding)。直(zhi)接(jie)顯示(shi)度(du)值.

3 、繼續(xu)試(shi)驗時(shi),將樣(yang)品(pin)盤(pan)中(zhong)的殘(can)留物清除,按(an)壹下(xia)峰值保持鍵, 解除峰值保持,數(shu)字恢復顯示(shi)為(wei) 00.0, 同時峰值保持指(zhi)示燈熄滅(mie), 且(qie)按壹(yi)下(xia)清零(ling)鍵, 直(zhi)到數(shu)字顯示(shi)為(wei) 00.0。

4 、當樣(yang)品(pin)強(qiang)度(du)過(guo)大(da),顯示(shi)數(shu)值超(chao)過(guo)500N, 再(zai)及時退出(chu), 以(yi)防損(sun)壞(huai)傳感器(qi),此時顯示(shi)器(qi)鎖(suo)定(ding)的為(wei)無(wu)效數(shu)值

註(zhu)意(yi)事(shi)項

1、未(wei)通(tong)電時,不得(de)隨(sui)便順時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪,使加力桿(gan)與(yu)樣品(pin)盤(pan)接(jie)觸受力,以(yi)免(mian)因過(guo)載(zai)而損(sun)壞(huai)傳感器(qi)。

2、試(shi)驗結束(shu)時,也(ye)應(ying)註意(yi)加力桿(gan)遠(yuan)離樣品(pin)盤(pan),確(que)認(ren)其(qi)處於(yu)非受力狀(zhuang)態(tai),方(fang)可(ke)關(guan)閉電(dian)源。

3、測(ce)定樣(yang)品(pin)強(qiang)度(du)前, 應(ying)先將樣(yang)品(pin)盤(pan)清理幹凈, 放好樣品(pin)盤(pan)和盤(pan)中(zhong)心(xin)的強(qiang)力(li)柱(zhu), 再(zai)按(an)清零(ling)鍵, 內部數(shu)據自(zi)動恢復, 直(zhi)到數(shu)字顯示(shi)為(wei) 00.0。

4、當受力大(da)於(yu)500N,應(ying)及時逆(ni)時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪,使加力桿(gan)與(yu)樣品(pin)分離,結束(shu)本次(ci)試(shi)驗。

5、試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong),在順時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪時,不得(de)突然逆時(shi)針(zhen)旋(xuan)轉手輪減(jian)力(超(chao)量程(cheng)報(bao)警(jing)時除外(wai)),否(fou)則儀器(qi)會誤(wu)判(pan)為樣(yang)品(pin)已破碎而鎖(suo)定(ding)無(wu)效數(shu)值。

6、試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong),當(dang)顆(ke)粒已受力,應(ying)盡量緩慢(man)旋(xuan)轉手輪,使力(li)上(shang)升(sheng)的速率盡可(ke)能(neng)低,這樣(yang)可(ke)保證(zheng)測(ce)量精度(du),比(bi)如某(mou)壹樣(yang)品(pin)的顆(ke)粒實(shi)際(ji)強(qiang)度(du)為(wei)50N,而(er)力的上(shang)升(sheng)速率較高(gao),假(jia)設為(wei)10N/秒,由(you)於(yu)本(ben)儀器(qi)A/D采(cai)樣頻(pin)率約為(wei)5次(ci)/秒,則(ze)儀器(qi)有(you)可(ke)能(neng)測(ce)量為48N左(zuo)右,如降為(wei)1N/秒,則(ze)測(ce)定值相(xiang)應(ying)在49.8N左(zuo)右。