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        1. 產(chan)品目(mu)錄(lu) Product catalog
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          北京恒(heng)奧德(de)儀器(qi)儀表(biao)有限公司
          聯(lian)系人(ren):王蕊
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          辦(ban)公地(di)址(zhi):北京市海(hai)澱(dian)區(qu)富(fu)海(hai)中(zhong)心(xin)

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          解(jie)析(xi)BT2000線路(lu)故障距離(li)測(ce)試(shi)儀具(ju)體(ti)操(cao)作使(shi)用(yong)
          點(dian)擊次數(shu):1139      更(geng)新時間(jian):2023-07-18

          解(jie)析(xi)BT2000線路(lu)故障距離(li)測(ce)試(shi)儀具(ju)體(ti)操(cao)作使(shi)用(yong)

           

           

          按(an)鍵操(cao)作

          本儀器(qi)除(chu)了(le)電(dian)源(yuan)開(kai)關外。還(hai)有五個(ge)簡單的(de)操(cao)作鍵(jian),分(fen)別為(wei)“短路/開(kai)路"選擇(ze)鍵(jian),功(gong)能(neng)"選(xuan)擇鍵,左移鍵(jian)和(he)右(you)移鍵(jian)在不(bu)同的(de)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態下(xia)左(zuo)﹑右移鍵(jian)還(hai)有其它壹些(xie)定義。

          “功(gong)能(neng)"選(xuan)擇鍵,是用(yong)於(yu)選擇(ze)分(fen)析(xi)、采樣(yang)、縮(suo)放操(cao)作狀(zhuang)態,每按壹次順序(xu)會(hui)改(gai)變壹次,當前被(bei)選(xuan)中(zhong)的(de)操(cao)作功(gong)能(neng)狀(zhuang)態會(hui)反白顯(xian)示(shi)。

          在分(fen)析(xi)過程中(zhong)按下(xia)左(zuo)、右移鍵(jian),會(hui)使(shi)標(biao)識(shi)線左(zuo)、右(you)移動(dong),當移動(dong)到圖(tu)形的(de) 左、右(you)兩端時,如果(guo)還(hai)有數(shu)據,會(hui)自(zi)動(dong)換(huan)頁(ye)。如(ru)果(guo)認(ren)為頻率(lv)的(de)精細(xi)度(du)不(bu)夠(gou),應(ying)進入縮放(fang)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態進行X軸(zhou)方(fang)向(xiang)的(de)放大(da)和(he)壓(ya)縮後(hou),再回(hui)到(dao)分析(xi)功(gong)能(neng)中(zhong)分析(xi)。

          在縮(suo)放(fang)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態下(xia),每(mei)按壹次“左移"鍵(jian),圖(tu)形曲(qu)線會(hui)在原(yuan)頻率(lv)點壓(ya)縮壹倍(bei)。按壹次“右移"鍵(jian),圖(tu)形曲(qu)線會(hui)在原(yuan)頻率(lv)點擴(kuo)展(zhan)壹倍(bei),直到最(zui)小精細(xi)度(du)。

          在采樣(yang)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態下(xia),按(an)“右移"鍵(jian)致(zhi)屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)“采樣(yang)"標(biao)識(shi)閃爍(shuo)時,再(zai)次按下(xia)“右(you)移"鍵(jian)兩秒(miao)左(zuo)右儀器(qi)進(jin)入采樣(yang)測(ce)量,進(jin)入測量(liang)後(hou),所(suo)有操(cao)作鍵(jian)均(jun)失(shi)效,直至采樣(yang)完成。並將(jiang)上(shang)次所(suo)測量後保存的(de)數(shu)據刷(shua)新。

          在采樣(yang)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態下(xia),按(an)“左移"鍵(jian)可(ke)選擇所(suo)測量線路(lu)的(de)電(dian)壓(ya)等(deng)級。選(xuan)擇線路(lu)的(de)電(dian)壓(ya)等(deng)級依次為35KV110KV220KV330KV和(he)500KV,每(mei)按壹下(xia)左(zuo)移"鍵(jian) 將(jiang)會(hui)在上(shang)述電(dian)壓(ya)等(deng)級中(zhong)增(zeng)跳壹次,多次按下(xia)會(hui)反復(fu)變(bian)換(huan)。

          使用(yong)方(fang)法(fa)

          本儀器(qi)不(bu)允(yun)許(xu)在被(bei)測(ce)線路(lu)帶(dai)電(dian)的(de)情況下(xia)測(ce)量。

          測量時(shi),儀器(qi)的(de)“輸出"端子,用引(yin)線連接故障相架(jia)空(kong)線路(lu)。儀器(qi)的(de)“接地(di)"端子接變壓(ya)器的(de)地(di)線。若(ruo)架(jia)空(kong)線路(lu)發生(sheng)相間(jian)短路故障,可(ke)壹相接(jie)儀器(qi)“輸(shu)出"端子,另(ling)壹相接(jie)儀器(qi)“接(jie)地(di)"端子。檢(jian)查(zha)所(suo)有連接線都(dou)聯(lian)接好(hao)後,打(da)開(kai)電(dian)源(yuan)“開(kai)關"。

          儀器(qi)進(jin)入主(zhu)界(jie)面(mian)後(hou),通過“功(gong)能(neng)"鍵(jian)選中(zhong)進入“采樣(yang)"功(gong)能(neng)狀(zhuang)態。此(ci)時按(an)“左移"鍵(jian)可(ke)選擇所(suo)測線路(lu)的(de)電(dian)壓(ya)等(deng)級。按(an)“右移"鍵(jian)致(zhi)“采樣(yang)"標(biao)識(shi)閃爍(shuo),再次按下(xia)“右(you)移"鍵(jian)兩秒(miao)左(zuo)右儀器(qi)進(jin)入采樣(yang)測(ce)量。采樣(yang)測(ce)量結(jie)束後儀器(qi)自(zi)動(dong)進入分析(xi)功(gong)能(neng)狀(zhuang)態。

          線路(lu)開(kai)路故障時(shi)的(de)駐(zhu)波(bo)比(bi)與頻率(lv)變化的(de)關系:

          線路(lu)短路故障時(shi)駐(zhu)波(bo)比(bi)與頻率(lv)的(de)關系:

          f0為(wei)第壹駐(zhu)波(bo)點的(de)頻率(lv),在分(fen)析(xi)"功(gong)能(neng)狀(zhuang)態下(xia)通(tong)過左移"鍵(jian)或右(you)移"鍵(jian)移動(dong)標(biao)識(shi)線,反復(fu)在第(di)壹駐(zhu)波(bo)點附近調(tiao)整,觀察顯(xian)示(shi)屏(ping)下(xia)方(fang)A的(de)值(zhi)(駐(zhu)波(bo)比(bi))變(bian)化,找(zhao)出點。此(ci)時顯(xian)示(shi)出的(de)距離(li)L為(wei)故障距離(li),f為(wei)第壹駐(zhu)波(bo)點的(de)頻率(lv),A為駐(zhu)波(bo)比(bi)。

          為(wei)了(le)便於(yu)找出第壹駐(zhu)波(bo)點的(de)最小A值(zhi),可(ke)選中(zhong)縮放(fang)狀(zhuang)態,通過左移"鍵(jian)或右(you)移"鍵(jian)放(fang)大(da)或壓(ya)縮曲(qu)線,以(yi)便取(qu)得最(zui)好(hao)精細(xi)度(du)。調(tiao)整好(hao)精細(xi)度(du)後(hou)進入分析(xi)狀(zhuang)態進行分(fen)析(xi)。

          采樣(yang)測(ce)量結(jie)束後儀器(qi)自(zi)動(dong)判(pan)斷(duan)線路(lu)故障性(xing)質(zhi)(短路或開(kai)路)。若(ruo)自(zi)動(dong)判(pan)斷(duan)有誤(wu)可(ke)通(tong)過“短路/開(kai)路"鍵改(gai)變故障判(pan)斷(duan)性質(zhi)(距離(li)L將(jiang)改(gai)變)。


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