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        1. 產(chan)品目(mu)錄 Product catalog
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          北(bei)京恒(heng)奧德(de)儀器儀表有(you)限公司
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          恒(heng)奧德(de)儀器HAD-GTC型(xing)圖(tu)像冠層(ceng)分析(xi)儀植物冠層(ceng)分析(xi)儀的原(yuan)理和(he)使(shi)用方法(fa)
          點(dian)擊次數(shu):1299      更(geng)新時間(jian):2023-04-23

                 HAD-GTC型(xing)圖(tu)像冠層(ceng)分析(xi)儀植物冠層(ceng)分析(xi)儀的原(yuan)理和(he)使(shi)用方法(fa)

           

           

            植(zhi)物冠層(ceng)分析(xi)儀的原(yuan)理和(he)使(shi)用方法(fa)

           

            廣(guang)泛適用於農(nong)業、園藝、林(lin)業域(yu)有(you)關(guan)栽(zai)培、育種、 植物群(qun)體對(dui)比與(yu)發展(zhan)的(de)研(yan)究(jiu)與(yu)教學(xue)中(zhong)農(nong)作(zuo)物、果(guo)樹、森(sen)林內(nei)冠層(ceng)受光(guang)狀(zhuang)況(kuang)的測(ce)量(liang)和(he)分(fen)析(xi)。能測(ce)算(suan)植物冠層(ceng)的太(tai)陽(yang)直射光(guang)透(tou)過率、天(tian)空散(san)射光(guang)透(tou)過率、冠層(ceng)的消(xiao)光(guang)系數,葉面積(ji)數(shu)和(he)葉片平均(jun)傾(qing)角(jiao)等(deng)。

           

            1:采用了(le)冠層(ceng)孔(kong)隙率與(yu)冠層(ceng)結構(gou)相(xiang)關(guan)的(de)原(yuan)理。它是(shi)根據(ju)光(guang)線(xian)穿(chuan)過介質(zhi)減弱(ruo)的(de)比(bi)爾(er)定律(lv),在(zai)對(dui)植物冠層(ceng)定義(yi)了(le)系列假(jia)設(she)前(qian)提的(de)條(tiao)件下(xia),采用半理(li)論半經驗(yan)的(de)公式(shi),通(tong)過(guo)冠層(ceng)孔(kong)隙率的(de)測(ce)定,計算(suan)出冠層(ceng)結構(gou)參(can)數(shu)。采用的是(shi)對(dui)冠層(ceng)下天(tian)穹半圖(tu)像分(fen)析(xi)測量(liang)冠層(ceng)孔(kong)隙率的(de)方(fang)法。

           

            21.非破(po)壞性(xing)地(di)測(ce)定冠層(ceng)結構(gou)2.可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)冠層(ceng)內外(wai)的(de)光(guang)合有(you)效輻射(PAR)3.手持式(shi)向接頭(tou)自(zi)動(dong)水平調整探頭(tou),4.隨身攜帶的筆(bi)記本(ben)計算(suan)機可以(yi)幫(bang)助妳正確(que)選(xuan)點(dian)取樣,即(ji)時決(jue)定圖(tu)像的(de)取舍5.由(you)計算(suan)機電池(chi)提(ti)供(gong)電(dian)源(yuan)其(qi)輕(qing)便、便於觀(guan)測,尤(you)其(qi)適(shi)合成野外繁(fan)重(zhong)的(de)觀(guan)測務(wu)6. 圖(tu)像分(fen)析(xi)軟件可(ke)以(yi)意定(ding)義圖(tu)像分(fen)析(xi)區(qu)域(yu)(天(tian)角可(ke)分(fen)10區(qu),方位(wei)角可(ke)分(fen)10區(qu))。對(dui)不同(tong)方(fang)向(xiang)的冠層(ceng)行區(qu)域(yu)性(xing)分析(xi)時,可(ke)以意屏蔽(bi)地(di)物景(jing)像(xiang)和(he)不(bu)合(he)理(li)的(de)冠層(ceng)分(如(ru)缺株(zhu)、邊行問題(ti)等)。對(dui)不同(tong)天(tian)角起(qi)始角和(he)終(zhong)止角的選(xuan)擇(ze),可(ke)以(yi)避(bi)開不符(fu)合計算(suan)該冠層(ceng)結構(gou)參(can)數(shu)的(de)冠層(ceng)孔(kong)隙條件 7.通(tong)過(guo)USB接口(kou)直接將(jiang)測(ce)點(dian)圖(tu)像顯(xian)示在(zai)計算(suan)機上,可(ke)以(yi)在(zai)野外(wai)即時(shi)觀察圖(tu)像,選(xuan)擇(ze)合(he)理(li)的(de)測點(dian),將(jiang)圖(tu)像存(cun)貯。8.半圖(tu)象(xiang)上(shang)可(ke)以(yi)何(he)地(di)點(dian)、何(he)時間(jian)的太(tai)陽(yang)視運(yun)動(dong)軌(gui)跡(ji),以(yi)及冠層(ceng)內意(yi)時(shi)刻(ke)的受光(guang)狀(zhuang)況(kuang)。

           


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