HAD-C910 測厚(hou)儀使(shi)用(yong)註(zhu)意事項(xiang)

主要類(lei)型

　　用(yong)於(yu)測定材(cai)料本(ben)身厚(hou)度(du)或(huo)材(cai)料表面(mian)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)的儀器。有些(xie)構件在(zai)制(zhi)和(he)檢(jian)修時(shi)須測量其(qi)厚(hou)度(du)，以(yi)便了解(jie)材(cai)料的(de)厚(hou)薄規格(ge)，各(ge)點均(jun)勻度(du)和材(cai)料腐(fu)蝕(shi)、磨(mo)損(sun)程(cheng)度(du);有時(shi)則要測定材(cai)料表面(mian)的(de)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)，以(yi)保(bao)證(zheng)產量(liang)和生產安(an)。根(gen)據(ju)測定原理(li)的(de)不(bu)同(tong)，常(chang)用(yong)測厚(hou)儀有聲、磁性、渦流(liu)、同(tong)位素等四種(zhong)。

　　聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀聲波(bo)在各(ge)種(zhong)介(jie)質(zhi)中(zhong)的聲(sheng)速是不同(tong)的(de)，但(dan)在同(tong)介(jie)質(zhi)中(zhong)聲速是常數。聲波(bo)在介(jie)質(zhi)中(zhong)傳播(bo)遇(yu)到(dao)二(er)種(zhong)介(jie)質(zhi)時(shi)會被反(fan)射(she)，測量聲(sheng)波(bo)脈沖從發(fa)射至接(jie)收(shou)的間隔(ge)時(shi)間，即可將這(zhe)間(jian)隔(ge)時(shi)間換(huan)算(suan)成(cheng)厚(hou)度(du)。在電力(li)業(ye)中(zhong)應用(yong)廣(guang)的就(jiu)是這(zhe)類(lei)測厚(hou)儀。常用(yong)於(yu)測定鍋爐(lu)鍋筒、受熱(re)面(mian)管子、管道等的(de)厚(hou)度(du)，也(ye)用(yong)於(yu)校(xiao)核件結(jie)構尺寸(cun)等。這(zhe)類(lei)測厚(hou)儀多是攜帶(dai)式的(de)，體(ti)積與(yu)小型半導(dao)體(ti)收(shou)音(yin)機(ji)相(xiang)近(jin)，厚(hou)度(du)值(zhi)的(de)顯示(shi)多是數字(zi)式的(de)。對(dui)於鋼(gang)材(cai)，大(da)測定厚(hou)度(du)達(da)2000 mm左(zuo)右(you)，度(du)在±0.01~±0.1 mm之(zhi)間(jian)。

　　磁(ci)性測厚(hou)儀在測定各(ge)種(zhong)導磁(ci)材(cai)料的(de)磁(ci)阻(zu)時(shi)，測定值(zhi)會(hui)因(yin)其表面(mian)非導(dao)磁覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)的不(bu)同(tong)而發(fa)生(sheng)變化。利(li)用(yong)這(zhe)種(zhong)變化即(ji)可測知(zhi)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)值(zhi)。常(chang)用(yong)於(yu)測定鐵(tie)磁金(jin)屬表面(mian)上(shang)的噴鋁(lv)層、塑料(liao)層(ceng)、電鍍層(ceng)、磷化層(ceng)、油(you)漆(qi)層等的(de)厚(hou)度(du)。

　　渦(wo)流(liu)測厚(hou)儀當載(zai)有頻電流(liu)的(de)探頭線圈(quan)置於(yu)被(bei)測金屬(shu)表面(mian)時(shi)，由(you)於頻(pin)磁場(chang)的作用(yong)而使(shi)金(jin)屬體(ti)內(nei)產生(sheng)渦流(liu)，此(ci)渦流(liu)產生(sheng)的磁場(chang)又反(fan)作用(yong)於(yu)探頭線圈(quan)，使(shi)其(qi)阻(zu)抗(kang)發(fa)生(sheng)變化，此(ci)變化量(liang)與(yu)探頭線圈(quan)離(li)金(jin)屬表面(mian)的(de)距離(li)(即(ji)覆(fu)蓋層的(de)厚(hou)度(du))有關，因(yin)而根(gen)據(ju)探(tan)頭線圈(quan)阻(zu)抗(kang)的(de)變化可間接測量金(jin)屬表面(mian)覆(fu)蓋層的(de)厚(hou)度(du)。常用(yong)於(yu)測定鋁(lv)材(cai)上的(de)氧(yang)化膜(mo)或(huo)鋁(lv)、銅表面(mian)上(shang)其他(ta)緣覆(fu)蓋層的(de)厚(hou)度(du)。

　　同(tong)位素測厚(hou)儀利用(yong)物(wu)質(zhi)厚(hou)度(du)不同(tong)對(dui)輻射的吸(xi)收(shou)與(yu)散射不(bu)同(tong)的原理(li)，可以(yi)測定薄鋼(gang)板(ban)、薄銅板(ban)、薄鋁(lv)板(ban)、矽(gui)鋼(gang)片(pian)、合金片(pian)等金(jin)屬(shu)材(cai)料及橡膠片(pian)，塑料膜(mo)，紙(zhi)張(zhang)等的(de)厚(hou)度(du)。常用(yong)的(de)同位素射線(xian)有γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)等。

　　 使(shi)用(yong)註(zhu)意事項(xiang)

　　測厚(hou)儀的測試方(fang)法主要有:磁(ci)性測厚(hou)法(fa)，放(fang)射測厚(hou)法(fa)，電解(jie)測厚(hou)法(fa)，渦(wo)流(liu)測厚(hou)法(fa)，聲(sheng)波(bo)測厚(hou)法(fa)。

　　測量註(zhu)意事項(xiang):

　　⒈在(zai)行(xing)測試的(de)時(shi)候要註(zhu)意標準(zhun)片(pian)集體(ti)的(de)金(jin)屬(shu)磁(ci)性和表面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)應當(dang)與(yu)試件相(xiang)似(si)。

　　⒉測量時(shi)側頭與(yu)試樣(yang)表面(mian)保(bao)持(chi)垂(chui)直(zhi)。

　　⒊測量時(shi)要註(zhu)意基體(ti)金(jin)屬(shu)的(de)臨(lin)界厚(hou)度(du)，如果(guo)大(da)於這(zhe)個(ge)厚(hou)度(du)測量就(jiu)不受基體(ti)金(jin)屬(shu)厚(hou)度(du)的影(ying)響(xiang)。

　　⒋測量時(shi)要註(zhu)意試件的(de)曲(qu)率對測量的(de)影響(xiang)。因(yin)此在(zai)彎(wan)曲(qu)的(de)試件表面(mian)上(shang)測量時(shi)不可靠的。

　　⒌測量前要註(zhu)意周圍其(qi)他(ta)的電器設備(bei)會(hui)不(bu)會(hui)產生(sheng)磁場，如(ru)果會(hui)將會(hui)幹(gan)擾磁性測厚(hou)法(fa)。

　　⒍測量時(shi)要註(zhu)意不要在(zai)內(nei)轉(zhuan)角處(chu)和(he)靠近試件邊(bian)緣處(chu)測量，因(yin)為般(ban)的測厚(hou)儀試件表面(mian)形狀(zhuang)的忽(hu)然變化很(hen)敏(min)感(gan)。

　　⒎在(zai)測量時(shi)要保(bao)持(chi)壓(ya)力(li)的(de)恒定，否則會影(ying)響(xiang)測量的(de)讀數。

　　⒏在(zai)行(xing)測試的(de)時(shi)候要註(zhu)意儀器測頭和被(bei)測試件的(de)要直(zhi)接(jie)接(jie)觸(chu)，因(yin)此聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀在行對側(ce)頭清除(chu)附著物(wu)質(zhi)。