恒奧(ao)德(de)儀(yi)器KDY-1A型(xing)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)使(shi)用(yong)方法(fa)

接(jie)地電(dian)阻測(ce)試儀(yi)是埋入(ru)地下的接(jie)地體(ti)電(dian)阻和土壤散(san)流電(dian)阻，通常采(cai)用(yong)ZC型(xing)接(jie)地電(dian)阻測(ce)量(liang)儀(yi)(或稱(cheng)接地電(dian)阻搖表)行(xing)測(ce)量(liang)。ZC-8型(xing)測(ce)量(liang)儀(yi)其(qi)外形(xing)與(yu)普通緣(yuan)搖表差(cha)不多(duo)，也(ye)就按(an)習(xi)慣(guan)稱(cheng)為(wei)接(jie)地電(dian)阻搖表。ZC型(xing)搖表的(de)外形(xing)結(jie)構隨型(xing)號(hao)的不同(tong)稍有(you)變(bian)化(hua)，但(dan)使(shi)用(yong)方法(fa)基本相(xiang)同(tong)。ZC-8型(xing)接(jie)地電(dian)阻測(ce)量(liang)儀(yi)的(de)結(jie)構如圖(tu)20所示(shi)，測(ce)量(liang)儀(yi)還隨(sui)表附帶接地探測(ce)棒兩(liang)支(zhi)、導(dao)線(xian)三根(gen)。使(shi)用(yong)方法(fa)和測(ce)量(liang)步驟(zhou)如(ru)下： 　　(a)接(jie)地電(dian)阻測(ce)試儀(yi)(b)連(lian)接(jie)線(xian)(c)測(ce)量(liang)接(jie)地棒 　　1、拆(chai)開(kai)接地幹線(xian)與(yu)接地體(ti)的(de)連(lian)接(jie)點，或拆(chai)開接地幹線(xian)上(shang)所有(you)接(jie)地支線(xian)的(de)連(lian)接(jie)點。 　　2、將(jiang)兩(liang)根(gen)接(jie)地棒分(fen)別(bie)插(cha)入(ru)地面400mm深(shen)，根(gen)離(li)接(jie)地體(ti)40m遠(yuan)，另(ling)根(gen)離(li)接(jie)地體(ti)20m遠(yuan)。 　　3、把(ba)搖表置於(yu)接地體(ti)近旁(pang)平(ping)整(zheng)的(de)地方，然後行(xing)接線(xian)。 　　(1)用(yong)根(gen)連(lian)接(jie)線(xian)連(lian)接(jie)表上(shang)接線(xian)樁E和接(jie)地裝(zhuang)置的接(jie)地體(ti)E′。 　　(2)用(yong)根(gen)連(lian)接(jie)線(xian)連(lian)接(jie)表上(shang)接線(xian)樁C和離(li)接(jie)地體(ti)40m遠(yuan)的(de)的接(jie)地棒C′。 　　(3)用(yong)根(gen)連(lian)接(jie)線(xian)連(lian)接(jie)表上(shang)接線(xian)樁P和離(li)接(jie)地體(ti)20m遠(yuan)的(de)接地棒P′。 　　4、根(gen)據(ju)被測(ce)接地體(ti)的(de)接(jie)地電(dian)阻要求，調節(jie)好(hao)粗(cu)調旋(xuan)鈕(niu)(上(shang)有(you)三檔可(ke)調範(fan)圍(wei))。 　　5、以約(yue)120轉(zhuan)/分(fen)鐘的(de)速度(du)均(jun)勻地搖動搖表。當(dang)表針(zhen)偏(pian)轉(zhuan)時，隨(sui)即調節(jie)微(wei)調撥(bo)盤，直至表針(zhen)居中(zhong)為(wei)止。以微(wei)調撥(bo)盤調定(ding)後(hou)的讀數，去乘(cheng)以粗(cu)調定(ding)位(wei)倍(bei)數，即是被測(ce)接地體(ti)的(de)接(jie)地電(dian)阻。例如微調讀數為(wei)0.6，粗(cu)調的(de)電(dian)阻定位(wei)倍(bei)數是10，則(ze)被測(ce)的接(jie)地電(dian)阻是6Ω。 　　6、為(wei)了(le)保(bao)證所測(ce)接地電(dian)阻值(zhi)的(de)可(ke)靠(kao)，應(ying)改(gai)變(bian)方(fang)位(wei)重新行復(fu)測(ce)。取幾(ji)次測(ce)得值(zhi)的(de)平(ping)均(jun)值(zhi)作(zuo)為(wei)接(jie)地體(ti)的(de)接(jie)地電(dian)阻。

表面(mian)阻抗

　　1 、平(ping)行(xing)探頭(tou)阻抗測(ce)量(liang)法(fa)(Parallel Probe ResistivityMethod)

　　平(ping)行(xing)探頭(tou)阻抗測(ce)量(liang)法(fa)是符合(he)EOS/ESD－S11.11－1993標(biao)準(zhun)的測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)，這(zhe)是種(zhong)快(kuai)速的(de)測(ce)量(liang)平(ping)面(mian)均(jun)勻材料(liao)電(dian)阻值(zhi)的(de)方法(fa)。這(zhe)種(zhong)方(fang)法也(ye)適合(he)於(yu)多(duo)層材料(liao)的(de)測(ce)量(liang)，但(dan)是在(zai)阻抗值(zhi)報(bao)告中(zhong)須(xu)註(zhu)明(ming)測(ce)量(liang)時(shi)的(de)溫(wen)度(du)和濕(shi)度(du)條件。 A 、將(jiang)表放(fang)在(zai)待(dai)測(ce)量(liang)的(de)物(wu)體(ti)表面(mian)。

　　B、將(jiang)開關調到所需(xu)的電(dian)壓位(wei)置(10伏或100伏)

　　C、以大約(yue)5磅的(de)壓(ya)力(li)持(chi)續按下測(ce)量(liang)按(an)鈕(niu)，此時(shi)LCD屏(ping)會顯(xian)示(shi)出測(ce)量(liang)的(de)表面(mian)阻抗，溫(wen)度(du)和相(xiang)對濕度(du)值(zhi)，整(zheng)個測(ce)量(liang)過(guo)程大約(yue)為(wei)十五(wu)秒(miao)種(zhong)。

　　·表面(mian)阻抗單位(wei)為(wei)歐(ou)姆/□

　　·溫(wen)度(du)單位(wei)為(wei)攝(she)式

　　·相(xiang)對濕度(du)單位(wei)為(wei)百(bai)分(fen)比

　　在(zai)每次測(ce)量(liang)中(zhong)，按下測(ce)量(liang)按(an)鈕(niu)後，ACL-800表將(jiang)連(lian)續顯(xian)示(shi)修(xiu)整(zheng)測(ce)量(liang)值(zhi)，松(song)開按(an)鈕(niu)後約(yue)四十五(wu)秒(miao)內，顯(xian)示(shi)的(de)是後個測(ce)量(liang)值(zhi)。

　　2 、同(tong)心(xin)環探頭(tou)阻抗測(ce)量(liang)法(fa)（Concentric Ring Probe Resistivitymethod）（同(tong)心(xin)環探頭(tou)為(wei)選(xuan)購(gou)件）

　　將(jiang)連(lian)線(xian)插(cha)頭(tou)插(cha)入(ru)表的(de)兩(liang)個 3.5毫(hao)米插(cha)孔(kong)，並將(jiang)香蕉(jiao)插(cha)頭(tou)與(yu)同(tong)心(xin)環探頭(tou) (選(xuan)購(gou)件)相(xiang)聯(lian)。將(jiang)探頭(tou)放(fang)在(zai)待(dai)測(ce)試物(wu)體(ti)表面(mian)後，按(an)下按鈕(niu)約15秒(miao)鐘後(hou)，在(zai)液(ye)晶顯(xian)示(shi)屏(ping)上(shang)將(jiang)顯(xian)示(shi)出正(zheng)確(que)的(de)溫(wen)度(du)和相(xiang)對濕度(du)，正(zheng)確(que)的(de)表面(mian)阻抗值(zhi)為(wei)液(ye)晶顯(xian)示(shi)屏(ping)上(shang)的讀數乘(cheng)以 10，單位(wei)為(wei)歐(ou)姆/□。 例如：

　　晶屏(ping)上(shang)顯(xian)示(shi)為(wei)3.5×10 4 歐(ou)姆/□；實際(ji)阻抗值(zhi)為(wei)3.5×10 5 歐(ou)姆/□。

　　二、表面(mian)電(dian)阻測(ce)量(liang)（點對點） (Surface ResistanceMeasurement （RTT）)

　　這(zhe)個測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)是符合(he)EOS/ESD-S4.1測(ce)量(liang)要(yao)求來測(ce)量(liang)立(li)於(yu)接地的兩(liang)點之間(jian)的(de)電(dian)阻，用(yong)這個測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)得(de)出的(de)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)與(yu)被測(ce)物(wu)體(ti)的(de)處理、兩(liang)個5磅探頭(tou)之(zhi)間(jian)的距離(li)等(deng)因素有(you)關，因此(ci)，應(ying)選(xuan)擇正(zheng)確(que)的(de)測(ce)量(liang)規(gui)程，每次在(zai)同(tong)樣(yang)要求的測(ce)量(liang)條(tiao)件(jian)下行測(ce)試。 A 、將(jiang)連(lian)線(xian)插(cha)頭(tou)插(cha)入(ru)表的(de)兩(liang)個3.5毫(hao)米插(cha)孔(kong)，並將(jiang)香蕉(jiao)插(cha)頭(tou)與(yu)兩(liang)個5磅重探頭(tou)相(xiang)聯(lian)。

　　B、按(an)照(zhao)測(ce)量(liang)規(gui)程將(jiang)兩(liang)個探頭(tou)放(fang)置在(zai)待(dai)測(ce)物(wu)體(ti)表面(mian)。

　　C、選(xuan)擇所需(xu)的電(dian)壓值(zhi)(10伏或100伏)