電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)結(jie)構(gou)組成特性(xing)及(ji)應用(yong)

結構(gou)組(zu)成(cheng)

電(dian)阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要由(you)五個(ge)分(fen)組(zu)成:(1)數據采集(ji)系統等(deng)，(2)信號發生(sheng)器和(he)放(fang)大器，(3)變(bian)壓器，(4)樣(yang)品(pin)模(mo)具，(5)小電(dian)流傳(chuan)感(gan)器。

無接觸(chu)電(dian)電(dian)阻率(lv)測(ce)定儀(yi)是(shi)基於(yu)變(bian)壓器原(yuan)理發明的，見(jian)下圖(tu)。

裝在環(huan)形模(mo)具裏(li)的待測(ce)樣(yang)品(pin)作(zuo)為次級(ji)線圈(quan)，當信(xin)號發生(sheng)器和(he)放(fang)大器在變(bian)壓器的初(chu)級(ji)線圈(quan)上施(shi)加(jia)定電(dian)壓時，由(you)於(yu)電(dian)流感(gan)應，就(jiu)會在待測(ce)線圈(quan)上產生恒(heng)定的環(huan)形電(dian)壓U，再由(you)小電(dian)流傳(chuan)感(gan)器測(ce)得(de)待測(ce)樣(yang)品(pin)中(zhong)的環(huan)電(dian)流，根(gen)據由歐(ou)姆定律(lv)及(ji)樣(yang)品(pin)尺(chi)寸(cun)推(tui)導(dao)出的電(dian)阻率(lv)公式即(ji)可計算(suan)得到待測(ce)樣(yang)品(pin)的電(dian)阻率(lv)。

特性(xing)及(ji)應用(yong)

電(dian)阻率(lv)測(ce)量(liang)/控制型(xing)儀表(biao)，采用MCU微(wei)控制器成(cheng)信號采集(ji)處(chu)理、自(zi)動(dong)溫(wen)度補(bu)償，電(dian)阻率(lv)低限報警(jing);衛(wei)生級(ji)316L不銹(xiu)鋼電(dian)，外(wai)型(xing)輕巧，價(jia)位(wei)適中(zhong)，儀表(biao)長(chang)期(qi)運(yun)行穩定