直接恒奧(ao)德測(ce)厚儀測量(liang)註意(yi)事(shi)項

用(yong)於測(ce)定材料(liao)本身(shen)厚度(du)或(huo)材料(liao)表面(mian)覆蓋(gai)層厚度的儀器。有些(xie)構件在制(zhi)和(he)檢(jian)修時(shi)測量(liang)其厚(hou)度(du)，以便了(le)解(jie)材料(liao)的厚薄(bo)規(gui)格，各點(dian)均(jun)勻(yun)度和(he)材料(liao)腐(fu)蝕(shi)、磨(mo)損(sun)程度;有時(shi)則(ze)要測(ce)定材料(liao)表面(mian)的覆蓋(gai)層厚度，以(yi)保(bao)證產量(liang)和(he)安(an)。根據測定(ding)原(yuan)理(li)的不(bu)同(tong)，常用測厚儀有聲、磁性、渦(wo)、同(tong)位素(su)等四(si)種。

聲(sheng)波測厚儀聲波在各種介質中的聲速(su)是(shi)不(bu)同(tong)的，但(dan)在同(tong)介質中聲速是(shi)常數(shu)。聲(sheng)波在介(jie)質(zhi)中傳(chuan)播(bo)遇到(dao)二(er)種介質時(shi)會(hui)被(bei)反(fan)射(she)，測量(liang)聲波脈(mai)沖(chong)從發射至(zhi)接收的間隔(ge)時(shi)間，即(ji)可將(jiang)這間(jian)隔(ge)時(shi)間換算成(cheng)厚(hou)度。常(chang)用(yong)於測(ce)定鍋爐(lu)鍋筒、受(shou)熱(re)面(mian)管子、管(guan)道(dao)等(deng)的厚度(du)，也用(yong)於校(xiao)核件結構(gou)尺(chi)寸(cun)等(deng)。這(zhe)類測厚(hou)儀多(duo)是(shi)攜帶式(shi)的，體積與小(xiao)型半(ban)導體收音機(ji)相近，厚(hou)度值(zhi)的顯示(shi)多(duo)是(shi)數字(zi)式(shi)的。對(dui)於鋼(gang)材，大(da)測(ce)定(ding)厚(hou)度達2000 mm左右(you)，度(du)在±0.01~±0.1 mm之間。

磁性測(ce)厚(hou)儀在測(ce)定(ding)各種導磁材料(liao)的磁阻時(shi)，測定值(zhi)會(hui)因其表面(mian)非導磁覆蓋(gai)層厚度的不(bu)同(tong)而發生變(bian)化。利(li)用這(zhe)種變(bian)化即(ji)可測(ce)知(zhi)覆蓋(gai)層厚度值(zhi)。常用(yong)於測(ce)定鐵(tie)磁金屬表面(mian)上的噴(pen)鋁層、塑料(liao)層、電(dian)鍍層、磷化層、油(you)漆(qi)層等的厚度(du)。

渦(wo)測厚(hou)儀當載有頻電(dian)的探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)置(zhi)於被(bei)測金屬表面(mian)時(shi)，由(you)於頻磁場的作用(yong)而使金屬體內(nei)產生(sheng)渦(wo)，此渦(wo)產生(sheng)的磁場又(you)反(fan)作(zuo)用於探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)，使其阻(zu)抗(kang)發生(sheng)變(bian)化，此變(bian)化量(liang)與探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)離(li)金屬表面(mian)的距(ju)離(li)(即(ji)覆蓋(gai)層的厚度(du))有關(guan)，因而根據探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)阻抗(kang)的變(bian)化可間(jian)接測量(liang)金屬表面(mian)覆蓋(gai)層的厚度(du)。常用(yong)於測(ce)定鋁材上的氧(yang)化(hua)膜(mo)或(huo)鋁、銅表面(mian)上其他(ta)緣(yuan)覆蓋(gai)層的厚度(du)。

同(tong)位素(su)測厚儀利(li)用物(wu)質厚(hou)度(du)不(bu)同(tong)對(dui)輻射(she)的吸收與散射不(bu)同(tong)的原(yuan)理(li)，可以(yi)測定(ding)薄(bo)鋼板(ban)、薄(bo)銅板、薄(bo)鋁板、矽(gui)鋼(gang)片(pian)、合金片等(deng)金屬材料(liao)及橡(xiang)膠(jiao)片(pian)，塑(su)料(liao)膜(mo)，紙張等的厚度(du)。常用(yong)的同(tong)位素(su)射線(xian)有(you)γ射線(xian)、β射(she)線(xian)等(deng)。

使(shi)用註(zhu)意(yi)事(shi)項

測(ce)厚儀的測試(shi)方(fang)法(fa)主(zhu)要有(you):磁性測(ce)厚(hou)法(fa)，放射測厚法(fa)，電(dian)解(jie)測厚(hou)法(fa)，渦(wo)測(ce)厚法(fa)，聲(sheng)波測厚法(fa)。

測(ce)量(liang)註意(yi)事(shi)項:

⒈在行(xing)測試的時(shi)候要註(zhu)意標(biao)準片(pian)集體的金屬磁性和(he)表面(mian)粗(cu)糙度(du)應(ying)當與試(shi)件相(xiang)似(si)。

⒉測(ce)量(liang)時(shi)側頭與試樣表面(mian)保(bao)持垂直。

⒊測(ce)量(liang)時(shi)要註(zhu)意基(ji)體金屬的臨界厚(hou)度(du)，如果大(da)於這(zhe)個厚度(du)測(ce)量(liang)就不(bu)受(shou)基體(ti)金屬厚度的影響(xiang)。

⒋測(ce)量(liang)時(shi)要註(zhu)意試(shi)件的曲(qu)率(lv)對(dui)測量(liang)的影響(xiang)。因此在彎(wan)曲(qu)的試件表面(mian)上測(ce)量(liang)時(shi)不(bu)可靠(kao)的。

⒌測(ce)量(liang)前要註(zhu)意周(zhou)圍其他(ta)的電(dian)器設備會(hui)不(bu)會(hui)產生(sheng)磁場，如果會(hui)將(jiang)會(hui)幹(gan)擾(rao)磁性測(ce)厚(hou)法(fa)。

⒍測(ce)量(liang)時(shi)要註(zhu)意不(bu)要在內(nei)轉角(jiao)處和(he)靠(kao)近試件邊(bian)緣(yuan)處測量(liang)，因為般的測厚(hou)儀試件表面(mian)形狀(zhuang)的忽然變(bian)化很敏(min)感(gan)。

⒎在測(ce)量(liang)時(shi)要保(bao)持壓力(li)的恒定(ding)，否則(ze)會(hui)影(ying)響(xiang)測(ce)量(liang)的讀數(shu)。

⒏在行(xing)測試的時(shi)候要註(zhu)意儀器測頭和(he)被(bei)測試件的要直接接觸，因此聲(sheng)波測厚儀在行(xing)對(dui)側頭(tou)清除(chu)附(fu)著(zhe)物(wu)質