測(ce)量原(yuan)理(li)

　　. 磁(ci)吸(xi)力(li)測(ce)量原(yuan)理(li)及測(ce)厚(hou)儀

　　磁(ci)鐵(tie)(測(ce)頭)與(yu)導磁鋼(gang)材之(zhi)間(jian)的吸(xi)力(li)大小(xiao)與(yu)處於這兩(liang)者(zhe)之(zhi)間(jian)的距離成定比例(li)關(guan)系，這個(ge)距離就是覆層的厚(hou)度(du)。利用這原(yuan)理(li)制(zhi)成(cheng)測(ce)厚(hou)儀，只要覆層與(yu)基材的導磁(ci)率(lv)之(zhi)差(cha)足(zu)夠大，就可行測(ce)量。鑒(jian)於(yu)大多(duo)數業(ye)品采(cai)用結構(gou)鋼(gang)和(he)熱軋(zha)冷(leng)軋(zha)鋼(gang)板沖壓(ya)成(cheng)型(xing)，所(suo)以(yi)磁(ci)性測(ce)厚(hou)儀應(ying)用(yong)廣。測(ce)厚(hou)儀基(ji)本(ben)結構(gou)由磁(ci)鋼(gang)，接力(li)簧，標(biao)尺(chi)及自停機(ji)構(gou)組(zu)成(cheng)。磁鋼(gang)與(yu)被(bei)測(ce)物吸(xi)合(he)後(hou)，將(jiang)測(ce)量簧在(zai)其後(hou)逐漸拉(la)長(chang)，拉力逐漸增(zeng)大。當(dang)拉力(li)剛(gang)好大於(yu)吸(xi)力(li)，磁鋼(gang)脫(tuo)離的瞬間(jian)記錄(lu)下拉(la)力的大小(xiao)即(ji)可獲得覆層厚(hou)度(du)。新型(xing)的產品(pin)可以(yi)自(zi)動成(cheng)這記(ji)錄(lu)過程(cheng)。不同(tong)的型(xing)號有不(bu)同(tong)的量程與(yu)適(shi)用場(chang)合(he)。

　　這種儀器(qi)的點是(shi)操(cao)作簡(jian)便(bian)、堅固(gu)耐(nai)用、不(bu)用電(dian)源(yuan)，測(ce)量前(qian)無須(xu)校準(zhun)，價格也(ye)較(jiao)低(di)，很(hen)適(shi)合車間(jian)做現場質(zhi)量控(kong)制

　　使用規(gui)定

　　a 基體金屬性(xing)

　　對(dui)於(yu)磁(ci)性(xing)方法(fa)，標(biao)準片的基體(ti)金屬的磁性(xing)和(he)表面粗糙度，應(ying)當(dang)與(yu)試件基體(ti)金屬的磁性(xing)和(he)表面粗糙度相(xiang)似(si)。 對(dui)於(yu)渦方法(fa)，標(biao)準片基體(ti)金屬的電(dian)性質(zhi)，應(ying)當(dang)與(yu)試件基體(ti)金屬的電(dian)性質(zhi)相(xiang)似(si)。

　　b 基體(ti)金屬厚(hou)度(du)

　　檢查(zha)基(ji)體金屬厚(hou)度(du)是否(fou)過臨(lin)界厚(hou)度(du)，如果(guo)沒有，可采(cai)用3.3中(zhong)的某種方法(fa)行校(xiao)準(zhun)。

　　c 邊緣(yuan)效應(ying)

　　不(bu)應(ying)在(zai)緊靠試件(jian)的突變(bian)處，如邊緣(yuan)、洞和(he)內轉(zhuan)角(jiao)等處行測(ce)量。

　　d 曲率(lv)

　　不應(ying)在(zai)試件(jian)的彎曲表面上測(ce)量。

　　e 讀(du)數次(ci)數

　　通(tong)常由(you)於儀器(qi)的每(mei)次(ci)讀(du)數並(bing)不相(xiang)同(tong)，因(yin)此(ci)在(zai)每(mei)測(ce)量面積(ji)內取幾個讀(du)數。覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)的局差(cha)異(yi)，也(ye)要求在(zai)給(gei)定的面積(ji)內行多(duo)次(ci)測(ce)量，表面粗時(shi)更(geng)應(ying)如此。

　　f 表面清潔度

　　測(ce)量前(qian)，應(ying)清除(chu)表面上的何附(fu)著(zhe)物質(zhi)，如塵土(tu)、油脂及腐蝕產物(wu)等，但不要除(chu)去何(he)覆蓋層(ceng)物(wu)質(zhi)

　　塗層測(ce)厚(hou)儀中(zhong)F，N以(yi)及FN的區別(bie):

　　F代表ferrous 鐵磁性基(ji)體(ti)，F型(xing)的塗層測(ce)厚(hou)儀采(cai)用電(dian)磁感(gan)應(ying)原(yuan)理(li)， 來(lai)測(ce)量鋼(gang)、鐵等鐵磁質(zhi)金屬基(ji)體上的非鐵(tie)磁(ci)性塗層、鍍(du)層(ceng)，例(li)如:漆、粉末、塑(su)料(liao)、橡膠(jiao)、合(he)成(cheng)材料(liao)、磷化(hua)層(ceng)、鉻(ge)、鋅(xin)、鉛(qian)、鋁(lv)、錫、鎘(ge)、瓷(ci)、琺(fa)瑯、氧化(hua)層(ceng)等。

　　N代表Non- ferrous非鐵磁性(xing)基(ji)體(ti)，N型(xing)的塗層測(ce)厚(hou)儀采(cai)用電(dian)渦原(yuan)理(li);來(lai)測(ce)量用渦傳(chuan)感(gan)器測(ce)量銅、鋁(lv)、鋅、錫(xi)等基體上的琺瑯、橡膠(jiao)、油漆、塑(su)料(liao)層等。

　　FN型(xing)的塗層測(ce)厚(hou)儀既(ji)采(cai)用電(dian)磁感(gan)應(ying)原(yuan)理(li)，又(you)采(cai)用采(cai)用電(dian)渦原(yuan)理(li)，是(shi)F型(xing)和(he)N型(xing)的二合(he)型(xing)塗層測(ce)厚(hou)儀。

　　 影(ying)響因(yin)素

　　有關(guan)說明

　　a 基體(ti)金屬磁(ci)性質(zhi)

　　磁(ci)性(xing)法(fa)測(ce)厚(hou)受(shou)基體金屬磁(ci)性變(bian)化(hua)的影響(在(zai)實際(ji)應(ying)用(yong)中(zhong)，低碳(tan)鋼(gang)磁性(xing)的變(bian)化(hua)可以(yi)認(ren)為是(shi)輕微的)，為了(le)避(bi)免熱處理(li)和(he)冷(leng)因(yin)素(su)的影響，應(ying)使用與(yu)試件基體(ti)金屬具有相(xiang)同(tong)性(xing)質(zhi)的標(biao)準片對(dui)儀器(qi)行校(xiao)準(zhun);亦(yi)可用待(dai)塗覆試件(jian)行校(xiao)準(zhun)。

　　b 基體(ti)金屬電(dian)性質(zhi)

　　基(ji)體(ti)金屬的電(dian)導率(lv)對(dui)測(ce)量有影(ying)響，而(er)基體金屬的電(dian)導率(lv)與(yu)其材料(liao)成分及熱處理(li)方法(fa)有關(guan)。使用與(yu)試件基體(ti)金屬具有相(xiang)同(tong)性(xing)質(zhi)的標(biao)準片對(dui)儀器(qi)行校(xiao)準(zhun)。

　　c 基體(ti)金屬厚(hou)度(du)

　　每(mei)種儀器(qi)都有個(ge)基(ji)體(ti)金屬的臨(lin)界厚(hou)度(du)。大於(yu)這(zhe)個(ge)厚(hou)度(du)，測(ce)量就不受(shou)基體(ti)金屬厚(hou)度(du)的影響。本(ben)儀器(qi)的臨(lin)界厚(hou)度(du)值見附表1。

　　d 邊緣效應(ying)

　　本(ben)儀器(qi)對(dui)試(shi)件(jian)表面形狀(zhuang)的陡變(bian)敏感(gan)。因此在(zai)靠近(jin)試件(jian)邊(bian)緣(yuan)或(huo)內轉(zhuan)角(jiao)處(chu)行測(ce)量是不(bu)可靠的。

　　e 曲率(lv)

　　試件的曲率(lv)對(dui)測(ce)量有影(ying)響。這(zhe)種影響總是(shi)隨著(zhe)曲率(lv)半徑(jing)的減少(shao)明顯地(di)增(zeng)大。因(yin)此(ci)，在(zai)彎曲試件的表面上測(ce)量是不(bu)可靠的。

　　f 試件(jian)的變(bian)形

　　測(ce)頭會使軟(ruan)覆蓋層(ceng)試(shi)件變(bian)形，因(yin)此在(zai)這些(xie)試件上測(ce)出(chu)可靠的數據。

　　g 表面粗糙度

　　基(ji)體金屬和(he)覆蓋層(ceng)的表面粗糙程度(du)對(dui)測(ce)量有影(ying)響。粗(cu)糙程度(du)增(zeng)大，影(ying)響增(zeng)大。粗(cu)糙表面會引起(qi)系統(tong)誤(wu)差(cha)和(he)偶(ou)然(ran)誤(wu)差(cha)，每(mei)次(ci)測(ce)量時(shi)，在(zai)不同(tong)位(wei)置(zhi)上應(ying)增(zeng)加(jia)測(ce)量的次(ci)數，以(yi)克服這種偶(ou)然(ran)誤(wu)差(cha)。如果(guo)基體(ti)金屬粗(cu)糙，還(hai)在(zai)未塗覆的粗糙度相(xiang)類似(si)的基體(ti)金屬試(shi)件上取幾個位置(zhi)校對(dui)儀器(qi)的零點(dian);或(huo)用對(dui)基(ji)體(ti)金屬沒有腐蝕的溶(rong)液(ye)溶(rong)解除(chu)去覆蓋層(ceng)後(hou)，再(zai)校(xiao)對(dui)儀器(qi)的零點(dian)