​測(ce)試原(yuan)理(li)

　　真空度(du)檢(jian)測(ce)儀采(cai)用磁控放電法行(xing)測(ce)量(liang)。將(jiang)真空開關(guan)滅弧(hu)室的兩觸(chu)頭(tou)拉(la)開(kai)定(ding)的距離(li)，施加電場脈沖壓(ya)，將(jiang)滅弧(hu)室置於(yu)螺(luo)線管圈內或將新(xin)型電磁(ci)線圈置於(yu)滅弧(hu)室外側(ce)，向線圈通(tong)以大(da)電，從而(er)在(zai)滅弧(hu)室內產(chan)生與壓同(tong)步的(de)脈沖磁(ci)場。這(zhe)樣，在脈沖強(qiang)磁(ci)場和強(qiang)電場的(de)作(zuo)用下，滅弧(hu)室中的(de)帶電離(li)子作(zuo)螺(luo)旋(xuan)運(yun)動(dong)，並與殘(can)余(yu)氣體(ti)分(fen)子發生碰(peng)撞(zhuang)電離(li)，所(suo)產(chan)生的(de)離(li)子電與殘(can)余(yu)氣體(ti)密(mi)度(du)即真空度(du)近(jin)似成(cheng)比(bi)例(li)關(guan)系(xi)。對(dui)於(yu)不同的(de)真空管型號(管型)，由(you)於其結構不同(tong)，在(zai)同(tong)等觸(chu)頭(tou)開距、同(tong)等真空度(du)、同等(deng)電場與磁場的(de)條(tiao)件下，離(li)子電的(de)大(da)小也(ye)不(bu)相(xiang)同。通(tong)過(guo)實(shi)驗可(ke)以標(biao)定(ding)出(chu)各(ge)種(zhong)管型的真空度(du)與離子電間的對(dui)應(ying)關系曲(qu)線。當(dang)測(ce)知離子電後(hou)，就可(ke)以通(tong)過(guo)查(zha)詢該管型的離子電真空度(du)曲線獲得該管型的真空度(du)。

　　在常(chang)規(gui)磁(ci)控放電測(ce)試滅弧(hu)室的真空度(du)時，為(wei)了提(ti)其測(ce)試靈敏(min)度(du)，需從斷(duan)路器(qi)上(shang)卸(xie)下滅弧(hu)室，並置於(yu)螺(luo)線管線管內。這樣來，滅弧(hu)室在重新(xin)裝回斷路器(qi)時(shi)需(xu)要(yao)調(tiao)整(zheng)機械(xie)參數(shu)，作(zuo)量(liang)很大(da)並需業(ye)人員(yuan)。而(er)使(shi)用新(xin)型磁(ci)控線圈可(ke)以從側(ce)面包(bao)圍滅弧(hu)室，這樣(yang)就不拆卸(xie)滅弧(hu)室。而(er)采(cai)用單片(pian)微機(ji)行同步控制(zhi)與數據(ju)采(cai)集處(chu)理(li)，提了(le)滅弧(hu)室真空度(du)的現(xian)場測(ce)試靈敏(min)度(du)。

　　真空度(du)測(ce)試儀(yi)將滅弧(hu)室的兩觸(chu)頭(tou)拉(la)開(kai)定(ding)的開距，施加脈沖壓(ya)，將(jiang)電磁(ci)線圈環繞於(yu)滅弧(hu)室的外(wai)側，向(xiang)線圈通(tong)以大(da)電，從而(er)在(zai)滅弧(hu)室內產(chan)生與壓同(tong)步的(de)脈沖磁(ci)場，這(zhe)樣在脈沖磁(ci)場的(de)作(zuo)用下，滅弧(hu)室中的(de)電子做螺(luo)旋(xuan)運(yun)動(dong)，並與殘(can)余(yu)氣體(ti)分(fen)子發生碰(peng)撞(zhuang)電離(li)，所(suo)產(chan)生的(de)離(li)子電與殘(can)余(yu)氣體(ti)密(mi)度(du)即真空度(du)近(jin)似成(cheng)比(bi)例(li)關(guan)系(xi)。對(dui)於(yu)不同的(de)真空管，在同等真空度(du)條(tiao)件下，離(li)子電的(de)大(da)小也(ye)不(bu)相(xiang)同，當(dang)測(ce)知離子電後(hou)，通(tong)過(guo)離(li)子電真空度(du)曲線，由(you)計算(suan)機自動(dong)成(cheng)真空度(du)的計算(suan)，並顯示(shi)真空度(du)值。

　　 使(shi)用註意(yi)事(shi)項(xiang)

　　1、該儀器(qi)屬(shu)儀(yi)器(qi)，電路板(ban)布線密(mi)度(du)較大(da)，般要(yao)求(qiu)存(cun)放於(yu)較幹燥的地(di)方(fang)。若(ruo)環境較潮(chao)濕，則(ze)應(ying)經(jing)常通(tong)電。

　　2、若(ruo)測(ce)試後(hou)電值(zhi)顯(xian)示(shi)為零(ling)，應(ying)檢(jian)查(zha)滅弧(hu)室表面是否(fou)清(qing)潔(jie)。因(yin)為(wei)表(biao)面不清潔可(ke)能使(shi)漏電的(de)變(bian)化值(zhi)大(da)於電離(li)電值(zhi)，這(zhe)樣，測(ce)量(liang)值(zhi)減(jian)去漏(lou)電後(hou)小(xiao)於零(ling)，而(er)被(bei)儀(yi)器(qi)判(pan)為(wei)零(ling)。發生這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)後，將(jiang)滅弧(hu)室表面檫幹凈(jing)，再做(zuo)試(shi)驗，般(ban)來說這樣得到的真空度(du)值較(jiao)。

　　3、使(shi)用時，壓(ya)輸(shu)出(chu)線不得觸(chu)及(ji)人(ren)體(ti)，以(yi)防觸(chu)電。

　　4、壓(ya)示(shi)燈亮(liang)時，不要(yao)觸(chu)及(ji)壓(ya)線和磁(ci)控電線，以防觸(chu)電。

　　5、拆裝(zhuang)打(da)印(yin)紙在儀(yi)器(qi)斷(duan)電的(de)情(qing)況(kuang)下行(xing)，以(yi)免損(sun)壞(huai)打(da)印(yin)機。換(huan)紙時，將(jiang)前面板(ban)打(da)開(kai)，用食(shi)和拇(mu)捏(nie)緊(jin)打(da)印(yin)機兩端的兩夾片(pian)輕輕拖(tuo)出(chu)打(da)印(yin)機，使(shi)出(chu)紙口略於(yu)儀器(qi)面板(ban)，但不能拖(tuo)出(chu)距離(li)太大(da)，將新(xin)紙端口(kou)分(fen)剪成(cheng)尖(jian)頭(tou)狀，插(cha)入打(da)印(yin)機的(de)紙口，打(da)開(kai)儀器(qi)電源(yuan)開(kai)關，按(an)下打(da)印(yin)鍵(jian)，使(shi)紙從打(da)印(yin)機的(de)上(shang)端(duan)走出(chu)段(duan)距離(li)，插(cha)入面板(ban)出(chu)口(kou)縫導(dao)出(chu)。蓋(gai)好打(da)印(yin)機面板(ban)，裝紙畢(bi)。

　　6、本(ben)儀(yi)器(qi)無(wu)何用戶(hu)可(ke)維修的件(jian),如出(chu)現(xian)故障,請(qing)業(ye)人員(yuan)維(wei)修,或與供(gong)應(ying)商聯系(xi),切勿擅自打(da)開(kai)儀器(qi),以(yi)免(mian)發生意(yi)外(wai)或成(cheng)不的(de)損(sun)失(shi)。

　　7、本(ben)儀器(qi)真空度(du)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)在(zai)9.999×10-1~1×10-5之(zhi)間,離子電測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)在(zai)9.999×10-1~1×10-7之(zhi)間，當(dang)真空管的真空度(du)大(da)於10-2 Pa或離子電大(da)於500uA時(shi)建議(yi)該真空管報(bao)廢(fei)。

　　8、若(ruo)真空管內壓力(li)等於大(da)氣壓(ya)(即真空管破損(sun))，本(ben)儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)內(nei), 本儀器(qi)則(ze)拒(ju)檢(jian)測(ce)，返回初始狀態(tai)。

　　(註:擊(ji)穿(chuan)後，儀(yi)器(qi)有(you)可(ke)能出(chu)現(xian)顯(xian)示(shi)不正常(chang)，此(ci)時，按(an)"復位(wei)鍵(jian)"，儀(yi)器(qi)回到正常(chang)狀(zhuang)態(tai)。