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        1. 產(chan)品(pin)目(mu)錄 Product catalog
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          北(bei)京恒奧(ao)德(de)儀器儀(yi)表(biao)有限公司
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          新(xin)款(kuan)聲(sheng)波測(ce)厚儀的使用(yong)巧註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)
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          使用(yong)巧

            般(ban)測(ce)量

            1.在(zai)點(dian)處(chu)用(yong)探(tan)頭行(xing)兩次測(ce)厚,在(zai)兩次測(ce)量中探(tan)頭的分(fen)割面(mian)要互(hu)為(wei)90°,取較小(xiao)值(zhi)為(wei)被測(ce)件厚度(du)值(zhi)。

            2.30mm 多(duo)點測(ce)量法:當測(ce)量值(zhi)不(bu)穩定時(shi),以(yi)個(ge)測(ce)定點為(wei)中心(xin),在(zai)直(zhi)徑(jing)約(yue)為(wei)30mm 的圓內行(xing)多(duo)次測(ce)量,取小(xiao)值(zhi)為(wei)被測(ce)件厚度(du)值(zhi)。

            測(ce)量法

            在(zai)規(gui)定(ding)的(de)測(ce)量點周圍增加測(ce)量數目(mu),厚(hou)度(du)變化用等(deng)厚線(xian)表(biao)示(shi)。

            連續(xu)測(ce)量法

            用單點測(ce)量法沿(yan)路線(xian)連續(xu)測(ce)量,間隔(ge)不(bu)大於(yu)5mm。

            網格測(ce)量法

            在(zai)區(qu)域(yu)劃(hua)上網(wang)格,按點測(ce)厚記(ji)錄。此方(fang)法在(zai)壓(ya)設(she)備(bei)、不(bu)銹(xiu)鋼襯(chen)裏腐(fu)蝕(shi)監(jian)測(ce)中廣(guang)泛(fan)使用(yong)。

            5、影(ying)響(xiang)測(ce)量示(shi)值(zhi)的(de)因(yin)素

            (1)件表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)過大,成探頭與(yu)接(jie)觸面(mian)耦(ou)合(he)效(xiao)果差(cha),反(fan)射回(hui)波低,甚(shen)至(zhi)無(wu)法接(jie)收到回波信號(hao)。對(dui)於(yu)表(biao)面(mian)銹(xiu)蝕,耦(ou)合(he)效(xiao)果差(cha)的在(zai)役(yi)設(she)備(bei)、管(guan)道(dao)等可通(tong)過砂、磨、挫等(deng)方(fang)法對(dui)表(biao)面(mian)行(xing)處理,降(jiang)低(di)粗(cu)糙(cao)度(du),同時(shi)也可以(yi)將(jiang)氧(yang)化物及油(you)漆(qi)層去(qu)掉(diao),露(lu)出(chu)金屬(shu)光(guang)澤(ze),使探(tan)頭與(yu)被檢(jian)物通(tong)過耦(ou)合(he)劑(ji)能達到很(hen)好的(de)耦(ou)合(he)效(xiao)果。

            (2)件(jian)曲(qu)率(lv)半(ban)徑(jing)太(tai)小(xiao),尤(you)其(qi)是小(xiao)徑(jing)管(guan)測(ce)厚時,因(yin)常用(yong)探(tan)頭表(biao)面(mian)為(wei)平面(mian),與(yu)曲面(mian)接(jie)觸為(wei)點接(jie)觸或線(xian)接(jie)觸,聲(sheng)強(qiang)透射率(lv)低(di)(耦(ou)合(he)不(bu)好)。可選(xuan)用小(xiao)管徑(jing)用(yong)探頭(6mm ),能較的測(ce)量管道(dao)等曲(qu)面(mian)材(cai)料(liao)。

            (3)檢測(ce)面與(yu)底(di)面不(bu)平行(xing),聲(sheng)波遇到底(di)面產(chan)生(sheng)散(san)射,探(tan)頭無(wu)法接(jie)受到底(di)波信號(hao)。

            (4)鑄(zhu)件、奧(ao)氏(shi)體(ti)鋼因(yin)組織(zhi)不(bu)均(jun)勻(yun)或晶(jing)粒(li)粗(cu)大,聲(sheng)波在(zai)其(qi)中穿(chuan)過時產(chan)生(sheng)嚴重(zhong)的散射衰(shuai)減(jian),被散(san)射的(de)聲(sheng)波沿(yan)著復(fu)雜(za)的路徑(jing)傳(chuan)播,有可能使回(hui)波湮沒(mei),成不(bu)顯示(shi)。可選(xuan)用頻(pin)率(lv)較低的粗晶(jing)用探(tan)頭(2.5MHz)。

            (5)探頭接(jie)觸面(mian)有定磨(mo)損。常用(yong)測(ce)厚探頭表(biao)面(mian)為(wei)丙(bing)烯樹(shu)脂,長期(qi)使用(yong)會(hui)使其(qi)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)增加,導致靈(ling)敏(min)度(du)下降(jiang),從而(er)成顯示(shi)不(bu)正(zheng)確(que)。可選(xuan)用500#砂(sha)紙(zhi)打(da)磨(mo),使其(qi)平滑並保證(zheng)平(ping)行(xing)度(du)。如仍不(bu)穩定,則(ze)考慮(lv)更換(huan)探(tan)頭。

            (6)被測(ce)物背面有大量(liang)腐(fu)蝕坑(keng)。由於(yu)被測(ce)物另面有銹(xiu)斑、腐蝕凹(ao)坑(keng),成聲(sheng)波衰減(jian),導致讀(du)數無(wu)規(gui)則(ze)變(bian)化,在(zai)端(duan)情況下甚(shen)至(zhi)無(wu)讀(du)數。

            (7)被(bei)測(ce)物體(ti)(如管(guan)道(dao))內有沈(chen)積物,當(dang)沈(chen)積物與(yu)件聲(sheng)阻抗(kang)相(xiang)差(cha)不(bu)大時(shi),測(ce)厚儀顯示(shi)值(zhi)為(wei)壁(bi)厚(hou)加沈(chen)積物厚(hou)度(du)。

            (8)當材(cai)料(liao)內存在(zai)缺陷(xian)(如(ru)夾雜(za)、夾層(ceng)等(deng))時,顯示(shi)值(zhi)約(yue)為(wei)公稱(cheng)厚(hou)度(du)的70%,此時可用(yong)聲(sheng)波探傷(shang)儀(yi)步(bu)行(xing)缺陷(xian)檢(jian)測(ce)。

            (9)溫度(du)的影(ying)響(xiang)。般(ban)固體(ti)材(cai)料(liao)中的(de)聲(sheng)速隨(sui)其(qi)溫度(du)升而(er)降(jiang)低(di),有試驗(yan)數據(ju)表(biao)明(ming),熱(re)態材(cai)料(liao)每增加100°C,聲(sheng)速下降(jiang)1%。對(dui)於(yu)溫在(zai)役(yi)設(she)備(bei)常(chang)

            

            

            註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)

            a.電源電壓低(di)時(shi),在(zai)液(ye)晶(jing)屏幕(mu)左(zuo)側(ce)顯示(shi)低(di)電壓符(fu)號(hao),此時為(wei)了(le)保證(zheng)儀器的(de)正(zheng)常(chang)測(ce)量使用(yong),請(qing)您及時更(geng)換(huan)電池(chi)。

            b.在(zai)不(bu)需要背光(guang)的時(shi)候,盡量(liang)不(bu)要長時間開(kai)啟(qi)背(bei)光(guang),以(yi)免(mian)過快消(xiao)耗(hao)電池(chi)的(de)電量。

            c.傳(chuan)感器表(biao)面(mian)為(wei)丙(bing)烯樹(shu)脂,對(dui)粗(cu)糙(cao)表(biao)面(mian)的(de)重劃(hua)很(hen)敏(min)感,因(yin)此在(zai)使用(yong)中盡(jin)量(liang)輕(qing)按。

            d.在(zai)測(ce)量以(yi)後盡(jin)量及時將(jiang)傳(chuan)感器表(biao)面(mian)的(de)耦(ou)合(he)劑(ji)和(he)標(biao)準試塊(kuai),被測(ce)物體(ti)表(biao)面(mian)的(de)耦(ou)合(he)劑(ji)清(qing)理幹凈(jing)。

            e.被(bei)測(ce)物體(ti)表(biao)面(mian)溫(wen)度(du)不(bu)過60度(du),以(yi)免(mian)導(dao)致傳(chuan)感器不(bu)能正(zheng)常(chang)測(ce)量。

            f.儀器長時間不(bu)使用(yong)時(shi)應將(jiang)電池(chi)取出(chu),以(yi)免(mian)電池(chi)漏(lou)液(ye)導致儀器損(sun)壞(huai)。

            g.盡量(liang)避(bi)免(mian)油(you)汙,潮濕(shi),碰(peng)撞。

            h.插(cha)拔傳(chuan)感器時(shi),應捏住(zhu)活(huo)動外(wai)套(tao)沿(yan)軸(zhou)線(xian)用(yong)力,不(bu)可旋(xuan)轉(zhuan)傳(chuan)感器頭,以(yi)免(mian)損(sun)壞(huai)傳(chuan)感器電纜線(xian)芯(xin)

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