使(shi)用(yong)註(zhu)意(yi)事項
測(ce)厚儀(yi)的(de)測(ce)試方(fang)法(fa)主要有(you):磁性測(ce)厚法(fa)，放(fang)射(she)測(ce)厚法(fa)，電(dian)解測(ce)厚法(fa)，渦(wo)測(ce)厚法(fa)，聲(sheng)波(bo)測(ce)厚法(fa)。

測(ce)量註(zhu)意(yi)事項:

⒈在(zai)行(xing)測(ce)試的(de)時(shi)候要註(zhu)意(yi)標準(zhun)片集體的(de)金屬磁性和(he)表(biao)面(mian)粗糙度應當(dang)與(yu)試(shi)件(jian)相似(si)。

⒉測(ce)量時(shi)側頭與(yu)試(shi)樣表(biao)面(mian)保(bao)持(chi)垂直(zhi)。

⒊測(ce)量時(shi)要註(zhu)意(yi)基(ji)體金屬的(de)臨界厚(hou)度，如(ru)果(guo)大(da)於這個厚度測(ce)量就(jiu)不受基(ji)體金屬厚(hou)度的影(ying)響。

⒋測(ce)量時(shi)要註(zhu)意(yi)試件(jian)的曲(qu)率(lv)對測(ce)量的(de)影(ying)響。因此在(zai)彎(wan)曲(qu)的(de)試(shi)件(jian)表(biao)面(mian)上測(ce)量時(shi)不可(ke)靠的(de)。

⒌測(ce)量前(qian)要註(zhu)意(yi)周圍(wei)其(qi)他(ta)的電(dian)器設(she)備(bei)會(hui)不會(hui)產生磁場，如(ru)果(guo)會(hui)將會(hui)幹(gan)擾(rao)磁性測(ce)厚法(fa)。

⒍測(ce)量時(shi)要註(zhu)意(yi)不要在(zai)內(nei)轉角(jiao)處和靠近試(shi)件(jian)邊緣(yuan)處測(ce)量，因為般的(de)測(ce)厚儀(yi)試(shi)件(jian)表(biao)面(mian)形(xing)狀的忽(hu)然變(bian)化(hua)很(hen)敏感(gan)。

⒎在(zai)測(ce)量時(shi)要保(bao)持(chi)壓(ya)力(li)的恒(heng)定，否(fou)則(ze)會(hui)影(ying)響測(ce)量的(de)讀數。

⒏在(zai)行(xing)測(ce)試的(de)時(shi)候要註(zhu)意(yi)儀器(qi)測(ce)頭和(he)被(bei)測(ce)試件(jian)的要直(zhi)接接觸(chu)，因此聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)在(zai)行(xing)對側(ce)頭清(qing)除附著(zhe)物(wu)質(zhi)

應(ying)用(yong)
1、激光測(ce)厚儀(yi)是(shi)利(li)用(yong)激光的反射(she)原理，根據光切法測(ce)量和(he)觀(guan)察(cha)機(ji)械制中(zhong)零件(jian)表(biao)面(mian)的微觀(guan)幾(ji)何形(xing)狀來(lai)測(ce)量產(chan)品(pin)的(de)厚度，是種(zhong)非接觸(chu)式的動態(tai)測(ce)量儀(yi)器(qi)。它可(ke)直接輸出數字(zi)信(xin)號(hao)與(yu)業(ye)計算機相連(lian)接，並迅速(su)處理數據(ju)並輸(shu)出偏(pian)差值到(dao)各(ge)種(zhong)業(ye)設(she)備(bei)。

2、X射(she)線測(ce)厚儀(yi)利(li)用(yong)X射(she)線穿透(tou)被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)時(shi)，X射(she)線的強(qiang)度的變(bian)化(hua)與(yu)材(cai)料(liao)的(de)厚度相關(guan)的(de)性，滄(cang)州歐(ou)譜從(cong)而(er)測(ce)定材(cai)料(liao)的(de)厚度，是種(zhong)非接觸(chu)式的動態(tai)計量(liang)儀(yi)器。它以(yi)PLC和業(ye)計算機為核心，采(cai)集(ji)計算數據(ju)並輸(shu)出目標偏(pian)差值給軋機(ji)厚度控制系(xi)統，達到(dao)要求(qiu)的(de)軋制厚(hou)度。主要應(ying)用(yong)行(xing)業(ye):有(you)色(se)金屬的(de)板(ban)帶箔(bo)、冶金行(xing)業(ye)的(de)板(ban)帶。

3、紙(zhi)張(zhang)測(ce)厚儀(yi):適(shi)用(yong)於4mm以下的各種(zhong)薄(bo)膜(mo)、紙(zhi)張(zhang)、紙(zhi)板以(yi)及(ji)其(qi)他(ta)片狀(zhuang)材(cai)料(liao)厚(hou)度的測(ce)量。

4、薄(bo)膜(mo)測(ce)厚儀(yi):用(yong)於測(ce)定薄膜(mo)、薄(bo)片等材(cai)料(liao)的(de)厚度，測(ce)量範(fan)圍寬、測(ce)量度，具有(you)數據(ju)輸出、意位置置零、公英(ying)制轉換(huan)、自(zi)動斷(duan)電(dian)等點。

5、塗(tu)層測(ce)厚儀(yi):用(yong)於測(ce)量鐵(tie)及(ji)非鐵金屬基(ji)體上(shang)塗(tu)層(ceng)的厚度.

6、聲波(bo)測(ce)厚儀(yi):聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀(yi)是(shi)根據聲(sheng)波(bo)脈沖(chong)反(fan)射(she)原理來(lai)行(xing)厚(hou)度測(ce)量的(de)，當(dang)探(tan)頭發(fa)射(she)的聲(sheng)波(bo)脈沖(chong)通(tong)過被(bei)測(ce)物(wu)體到(dao)達材(cai)料(liao)分(fen)界面(mian)時(shi)，脈沖(chong)被(bei)反(fan)射(she)回探(tan)頭，通(tong)過測(ce)量聲(sheng)波(bo)在(zai)材(cai)料(liao)中(zhong)傳播的(de)時(shi)間來(lai)確(que)定被(bei)測(ce)材(cai)料(liao)的(de)厚度。凡能(neng)使聲(sheng)波(bo)以恒(heng)定速(su)度在(zai)其(qi)內傳(chuan)播的(de)各(ge)種(zhong)材(cai)料(liao)均(jun)可(ke)采(cai)用(yong)此(ci)原(yuan)理測(ce)量。