新(xin)款顆(ke)粒強(qiang)度(du)測定儀(yi)操(cao)作使(shi)用(yong)方(fang)法註意(yi)事(shi)項(xiang)

顆(ke)粒強(qiang)度(du)測定儀(yi)是(shi)采用(yong)的(de)傳感(gan)測量，實(shi)現數(shu)字顯示的(de)新(xin)型儀(yi)器(qi)，適(shi)於(yu)圓(yuan)狀或(huo)圓(yuan)柱狀的(de)顆(ke)粒料抗(kang)壓(ya)碎(sui)強(qiang)度(du)測定。該(gai)儀(yi)器(qi)有(you)體(ti)積(ji)小(xiao)、測量值(zhi)直(zhi)讀(du)、度(du)、使(shi)用(yong)方(fang)便等(deng)優點(dian)，是(shi)化肥(fei)、藥(yao)品(pin)、催(cui)化劑(ji)、顆(ke)粒等(deng)樣品(pin)強(qiang)度(du)測定較(jiao)為(wei)理(li)想(xiang)的(de)新(xin)代(dai)試驗儀(yi)器(qi)。

使(shi)用(yong)方(fang)法
1 、逆(ni)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun),使(shi)加(jia)力桿(gan)上(shang)移(yi),接(jie)通(tong)電源(yuan),顯示器(qi)顯示00.0, 如顯示其它(ta)數(shu)值(zhi),應(ying)反(fan)復(fu)按清零(ling)鍵(jian), 直(zhi)到(dao)數(shu)字顯示為(wei) 00.0。

2 、將試驗樣品置(zhi)於(yu)樣(yang)品(pin)盤(pan)中(zhong)心(xin)位(wei)置(zhi),再順(shun)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun),將加(jia)力桿(gan)下(xia)移,當加(jia)力桿(gan)接(jie)近(jin)樣(yang)品(pin)時(shi), 按(an)下(xia)峰值(zhi)保(bao)持鍵(jian), 此時(shi)峰值(zhi)保(bao)持示燈亮, 再繼續(xu)慢慢(man)旋轉手(shou)輪(lun), 此(ci)時(shi)顯示器(qi)已(yi)有數(shu)據顯示,並(bing)隨著試驗力的(de)增加(jia)而增(zeng)大,當樣品(pin)顆(ke)粒破(po)碎(sui)時(shi),受(shou)力的(de)大數(shu)值(zhi)(強(qiang)度(du)值(zhi))即(ji)被鎖定。直(zhi)接(jie)顯示度(du)值(zhi).

3 、繼(ji)續(xu)試驗時(shi),將樣(yang)品盤(pan)中(zhong)的(de)殘留(liu)物(wu)清除,按下(xia)峰值(zhi)保(bao)持鍵(jian), 解除峰值(zhi)保(bao)持,數(shu)字恢(hui)復(fu)顯示為(wei) 00.0, 同時(shi)峰值(zhi)保(bao)持示燈熄(xi)滅(mie), 且(qie)按下(xia)清零(ling)鍵(jian), 直(zhi)到(dao)數(shu)字顯示為(wei) 00.0。

4 、當樣品(pin)強(qiang)度(du)過(guo)大,顯示數(shu)值(zhi)過(guo)500N, 再及時(shi)退(tui)出, 以防損壞傳感(gan)器(qi),此(ci)時(shi)顯示器(qi)鎖定的(de)為(wei)無效(xiao)數(shu)值(zhi)。

註(zhu)意(yi)事(shi)項(xiang)
1、未通(tong)電時(shi),不(bu)得隨便順(shun)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun),使(shi)加(jia)力桿(gan)與(yu)樣(yang)品(pin)盤(pan)接(jie)觸受力,以免因過(guo)載而損(sun)壞傳感(gan)器(qi)。

2、試驗結束時(shi),也(ye)應註意加(jia)力桿(gan)遠(yuan)離(li)樣(yang)品盤(pan),確認(ren)其(qi)處於(yu)非(fei)受(shou)力狀態,方(fang)可(ke)關閉電源(yuan)。

3、測定樣(yang)品強(qiang)度(du)前(qian), 應將樣(yang)品盤(pan)清理(li)幹(gan)凈(jing), 放好(hao)樣品盤(pan)和盤(pan)中(zhong)心(xin)的(de)強(qiang)力柱, 再按清零(ling)鍵(jian), 內(nei)數(shu)據自(zi)動(dong)恢(hui)復(fu), 直到(dao)數(shu)字顯示為(wei) 00.0。

4、當受力大於(yu)500N,應(ying)及(ji)時(shi)逆(ni)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun),使(shi)加(jia)力桿(gan)與(yu)樣(yang)品(pin)分離(li),結(jie)束本(ben)次(ci)試驗。

5、試驗過(guo)程中(zhong),在(zai)順(shun)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun)時(shi),不(bu)得突然逆(ni)時(shi)針(zhen)旋轉手(shou)輪(lun)減(jian)力(量(liang)程報(bao)警時(shi)除外),否則(ze)儀(yi)器(qi)會(hui)誤判(pan)為(wei)樣品(pin)已(yi)破(po)碎(sui)而鎖定無(wu)效數(shu)值(zhi)。

6、試驗過(guo)程中(zhong),當顆(ke)粒已(yi)受力,應(ying)盡(jin)量緩(huan)慢(man)旋轉手(shou)輪(lun),使(shi)力上(shang)升(sheng)的(de)速率(lv)盡(jin)可(ke)能低(di),這樣可(ke)保(bao)證測量度(du),比(bi)如某(mou)樣品(pin)的(de)顆(ke)粒實際強(qiang)度(du)為(wei)50N,而力的(de)上升(sheng)速率(lv)較(jiao),假設為(wei)10N/秒,由於(yu)本(ben)儀(yi)器(qi)A/D采樣(yang)頻(pin)率(lv)約(yue)為(wei)5次(ci)/秒,則(ze)儀(yi)器(qi)有(you)可(ke)能測量為(wei)48N左右(you),如降(jiang)為(wei)1N/秒,則(ze)測定值(zhi)相(xiang)應(ying)在(zai)49.8N左右(you)。