恒(heng)奧(ao)德解(jie)析(xi)新(xin)款顆粒強(qiang)度測(ce)定(ding)儀(yi)操(cao)作使(shi)用(yong)方(fang)法(fa)

介(jie)紹
顆粒強(qiang)度測(ce)定(ding)儀(yi)是(shi)2011年新(xin)產(chan)品,采用(yong)的(de)傳(chuan)感測(ce)量,實現(xian)數(shu)字(zi)顯(xian)示的(de)新(xin)型儀(yi)器,適於圓(yuan)狀或圓(yuan)柱(zhu)狀的(de)顆(ke)粒料抗(kang)壓碎(sui)強(qiang)度測(ce)定(ding)。該(gai)儀(yi)器有體(ti)積小(xiao)、測(ce)量值(zhi)直(zhi)讀(du)、度、使(shi)用(yong)方(fang)便(bian)等優(you)點(dian),是(shi)化(hua)肥、藥(yao)品、催化(hua)劑、顆(ke)粒等樣品強(qiang)度測(ce)定(ding)較(jiao)為理想(xiang)的(de)新(xin)代試(shi)驗儀(yi)器。

顆粒強(qiang)度測(ce)定(ding)儀(yi)是(shi)用來測(ce)定(ding)各種形(xing)態(tai)顆粒的(de)破(po)碎(sui)時強(qiang)度大(da)值(zhi)。數字(zi)顯(xian)示，自動清(qing)零(ling)，具有啟(qi)動鍵，清零鍵和打印鍵。

​顆粒強(qiang)度測(ce)定(ding)儀(yi)設置(zhi)參(can)數及(ji)操作說明:  

1. 量程(cheng):根(gen)據(ju)裝(zhuang)配的(de)壓力(li)傳(chuan)感器量程(cheng),在(zai)程(cheng)序(xu)上輸入(ru)選(xuan)儀(yi)器測(ce)試(shi)範圍。

2. 儀(yi)器標(biao)定:在調(tiao)試程(cheng)序(xu)上設定(ding)標(biao)定值(zhi),再(zai)放(fang)上(shang)相(xiang)應(ying)的(de)標(biao)準碼,顯(xian)示數(shu)值(zhi)和標(biao)定碼相(xiang)同(tong).

3. 靈敏(min)度(du):因(yin)為客(ke)戶(hu)的(de)測(ce)量樣品有軟和(he)硬(ying), 要(yao)求(qiu)的(de)靈敏(min)度(du)可(ke)能(neng)與(yu)我們需(xu)要(yao)的(de)不(bu)樣，儀(yi)器靈敏(min)度(du)分(fen)1-9檔(dang)，數值(zhi)越大(da)越敏(min)感(gan),般(ban)選(xuan)用7-8檔(dang)，根(gen)據(ju)具(ju)體(ti)情(qing)況自行修改。

4. 語言:儀(yi)器已批(pi)量出(chu)口，分(fen)中(zhong)英(ying)文(wen)顯(xian)示打(da)印(yin)輸出(chu)的(de)語(yu)言.

5. 打(da)印：按照(zhao)測(ce)定(ding)順(shun)序打印(yin)相(xiang)應(ying)的(de)強(qiang)度值(zhi)。

6.平均(jun)值(zhi)顯(xian)示: 同(tong)測(ce)量樣品,測(ce)量次(ci)數過(guo)10次(ci)以(yi)上(shang)，方(fang)可(ke)顯(xian)示平(ping)均(jun)值(zhi)，自動退(tui)除(chu)波(bo)動過(guo)平(ping)均(jun)值(zhi)60%的(de)數(shu)值(zhi)，在打(da)印結(jie)果尾數(shu)顯(xian)示avr平(ping)均(jun)值(zhi) 。

操作使(shi)用(yong)方(fang)法(fa)
1 、逆(ni)時針(zhen)旋轉(zhuan)手輪(lun),使(shi)加(jia)力(li)桿上移(yi),接通電源(yuan),顯(xian)示器顯(xian)示00.0, 如(ru)顯(xian)示其它(ta)數(shu)值(zhi),應反復按(an)清零(ling)鍵, 直(zhi)到數(shu)字(zi)顯(xian)示為 00.0。

2 、將試(shi)驗樣品置於樣品盤中(zhong)心(xin)位(wei)置,再(zai)順(shun)時針(zhen)旋轉(zhuan)手輪(lun),將加(jia)力(li)桿下移(yi),當加力(li)桿接近(jin)樣品時, 按下峰(feng)值(zhi)保持(chi)鍵, 此時峰值(zhi)保持(chi)示燈(deng)亮, 再(zai)繼(ji)續(xu)慢慢旋轉(zhuan)手輪(lun), 此時顯(xian)示器已有數(shu)據(ju)顯(xian)示,並(bing)隨著試(shi)驗力(li)的(de)增(zeng)加而(er)增(zeng)大,當樣品顆粒破碎(sui)時,受力(li)的(de)大(da)數值(zhi)(強(qiang)度值(zhi))即被(bei)鎖定(ding)。直(zhi)接顯(xian)示度(du)值(zhi).

3 、繼(ji)續(xu)試驗時,將樣品盤中(zhong)的(de)殘留物清除(chu),按下峰(feng)值(zhi)保持(chi)鍵, 解除(chu)峰值(zhi)保持(chi),數字恢(hui)復顯(xian)示為 00.0, 同(tong)時峰值(zhi)保持(chi)示燈(deng)熄滅(mie), 且按下清(qing)零(ling)鍵, 直(zhi)到數(shu)字(zi)顯(xian)示為 00.0。

4 、當樣品強(qiang)度過(guo)大(da),顯(xian)示數(shu)值(zhi)過(guo)500N, 再(zai)及(ji)時退(tui)出(chu), 以(yi)防(fang)損壞(huai)傳感器,此時顯(xian)示器鎖定(ding)的(de)為無(wu)效(xiao)數(shu)值(zhi)。