主(zhu)要(yao)類型(xing)

用於測定材(cai)料(liao)本身(shen)厚(hou)度(du)或(huo)材料(liao)表面(mian)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)的(de)儀(yi)器(qi)。有些(xie)構(gou)件(jian)在制和檢(jian)修(xiu)時測量(liang)其(qi)厚(hou)度(du)，以(yi)便了解材(cai)料(liao)的厚(hou)薄(bo)規(gui)格，各點(dian)均勻度和材(cai)料(liao)腐蝕(shi)、磨損程度;有(you)時(shi)則要測定材(cai)料(liao)表面(mian)的(de)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)，以(yi)保(bao)證(zheng)產(chan)量(liang)和安(an)。根據(ju)測定原理(li)的(de)不同，常用測厚(hou)儀(yi)有(you)聲、磁(ci)性、渦(wo)、同(tong)位(wei)素(su)等(deng)四(si)種(zhong)。

聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀(yi)聲(sheng)波在各種(zhong)介質(zhi)中的(de)聲速是不同的，但(dan)在同介質(zhi)中聲(sheng)速是常(chang)數。聲波在介質(zhi)中傳(chuan)播(bo)遇(yu)到二(er)種(zhong)介質(zhi)時會被反射，測量(liang)聲波(bo)脈沖(chong)從發(fa)射至(zhi)接收(shou)的(de)間(jian)隔時(shi)間(jian)，即可(ke)將這(zhe)間隔(ge)時(shi)間換(huan)算(suan)成(cheng)厚(hou)度(du)。在電(dian)力業(ye)中(zhong)應用廣的(de)就(jiu)是這(zhe)類測厚(hou)儀(yi)。常(chang)用於測定鍋(guo)爐鍋筒(tong)、受(shou)熱面(mian)管子、管(guan)道(dao)等(deng)的(de)厚(hou)度(du)，也(ye)用於校(xiao)核件(jian)結(jie)構(gou)尺(chi)寸(cun)等(deng)。這(zhe)類測厚(hou)儀(yi)多(duo)是攜(xie)帶式的(de)，體(ti)積與(yu)小(xiao)型半導體(ti)收音(yin)機(ji)相(xiang)近，厚(hou)度(du)值的顯(xian)示多(duo)是數字式的(de)。對(dui)於(yu)鋼材，大(da)測定厚(hou)度(du)達(da)2000 mm左右(you)，度在±0.01~±0.1 mm之(zhi)間(jian)。

磁(ci)性測厚(hou)儀(yi)在測定各種(zhong)導(dao)磁(ci)材料(liao)的磁(ci)阻時(shi)，測定值會因(yin)其(qi)表(biao)面(mian)非(fei)導磁(ci)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)的(de)不同而發(fa)生變(bian)化。利(li)用這種(zhong)變(bian)化即可(ke)測知(zhi)覆(fu)蓋層厚(hou)度(du)值。常用於測定鐵(tie)磁(ci)金屬(shu)表(biao)面(mian)上(shang)的噴鋁層、塑料(liao)層、電(dian)鍍(du)層、磷(lin)化層、油(you)漆層等(deng)的(de)厚(hou)度(du)。

渦(wo)測厚(hou)儀(yi)當(dang)載(zai)有(you)頻(pin)電(dian)的(de)探(tan)頭線(xian)圈(quan)置(zhi)於(yu)被測金(jin)屬(shu)表(biao)面(mian)時(shi)，由於頻(pin)磁(ci)場的(de)作(zuo)用而使(shi)金(jin)屬(shu)體(ti)內(nei)產(chan)生渦(wo)，此(ci)渦(wo)產(chan)生的(de)磁(ci)場又反作(zuo)用於探(tan)頭線(xian)圈(quan)，使(shi)其(qi)阻(zu)抗發(fa)生變(bian)化，此(ci)變(bian)化量(liang)與(yu)探頭線(xian)圈(quan)離(li)金(jin)屬(shu)表(biao)面(mian)的(de)距離(即覆(fu)蓋層的厚(hou)度(du))有(you)關，因(yin)而根據(ju)探頭線(xian)圈(quan)阻(zu)抗的變(bian)化可間(jian)接(jie)測量(liang)金屬(shu)表(biao)面(mian)覆(fu)蓋層的厚(hou)度(du)。常(chang)用於測定鋁材上(shang)的(de)氧化膜或鋁、銅表(biao)面(mian)上其(qi)他(ta)緣(yuan)覆(fu)蓋層的厚(hou)度(du)。

同(tong)位(wei)素(su)測厚(hou)儀(yi)利(li)用物(wu)質(zhi)厚(hou)度(du)不同對(dui)輻(fu)射(she)的(de)吸收與(yu)散射不同的原理(li)，可(ke)以(yi)測定薄(bo)鋼板、薄(bo)銅(tong)板、薄(bo)鋁板、矽鋼片(pian)、合金(jin)片(pian)等(deng)金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)及(ji)橡膠片(pian)，塑料(liao)膜，紙張等(deng)的(de)厚(hou)度(du)。常(chang)用的同(tong)位(wei)素(su)射(she)線(xian)有(you)γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)等(deng)。

使(shi)用註(zhu)意事(shi)項(xiang)

測厚(hou)儀(yi)的(de)測試(shi)方法(fa)主(zhu)要(yao)有(you):磁(ci)性測厚(hou)法(fa)，放射(she)測厚(hou)法(fa)，電(dian)解測厚(hou)法(fa)，渦(wo)測厚(hou)法(fa)，聲波(bo)測厚(hou)法(fa)。

測量(liang)註(zhu)意事(shi)項(xiang):

⒈在行(xing)測試(shi)的時(shi)候(hou)要(yao)註(zhu)意標(biao)準片(pian)集(ji)體的(de)金屬(shu)磁(ci)性和表(biao)面(mian)粗糙度應(ying)當(dang)與(yu)試(shi)件(jian)相(xiang)似(si)。

⒉測量(liang)時側頭與(yu)試(shi)樣(yang)表面(mian)保(bao)持垂(chui)直(zhi)。

⒊測量(liang)時要(yao)註(zhu)意基(ji)體金(jin)屬(shu)的(de)臨(lin)界厚(hou)度(du)，如(ru)果(guo)大於(yu)這個厚(hou)度(du)測量(liang)就(jiu)不受(shou)基(ji)體金(jin)屬(shu)厚(hou)度(du)的(de)影(ying)響(xiang)。

⒋測量(liang)時要(yao)註(zhu)意試(shi)件(jian)的(de)曲(qu)率對(dui)測量(liang)的影(ying)響(xiang)。因(yin)此(ci)在彎(wan)曲(qu)的試(shi)件(jian)表(biao)面(mian)上(shang)測量(liang)時不可靠(kao)的。

⒌測量(liang)前要(yao)註(zhu)意周(zhou)圍(wei)其(qi)他(ta)的(de)電(dian)器(qi)設備(bei)會不會產生磁(ci)場，如(ru)果(guo)會將會幹(gan)擾磁(ci)性測厚(hou)法(fa)。

⒍測量(liang)時要(yao)註(zhu)意不要在內(nei)轉(zhuan)角處和靠(kao)近試(shi)件(jian)邊緣(yuan)處測量(liang)，因(yin)為(wei)般(ban)的測厚(hou)儀(yi)試(shi)件(jian)表(biao)面(mian)形(xing)狀(zhuang)的(de)忽(hu)然變化很敏(min)感(gan)。

⒎在測量(liang)時要(yao)保(bao)持壓(ya)力的(de)恒定，否(fou)則會影(ying)響(xiang)測量(liang)的讀(du)數。

⒏在行(xing)測試(shi)的時(shi)候(hou)要(yao)註(zhu)意儀(yi)器(qi)測頭和被測試(shi)件(jian)的(de)要(yao)直(zhi)接(jie)接(jie)觸(chu)，因(yin)此(ci)聲(sheng)波測厚(hou)儀(yi)在行(xing)對(dui)側頭清(qing)除(chu)附著(zhe)物(wu)質(zhi)。