粒(li)子計(ji)數器(qi) 作原(yuan)理(li)操(cao)作方(fang)法(fa)

用(yong)途(tu)

粒(li)子計(ji)數器(qi)是(shi)測(ce)試(shi)空(kong)氣(qi)塵(chen)埃(ai)粒(li)子顆粒(li)的(de)粒(li)徑及其(qi)分(fen)布(bu)的(de)用儀(yi)器(qi)，由(you)顯微鏡發展(zhan)而(er)來，經歷(li)了(le)顯(xian)微鏡、沈降管(guan)、沈降儀(yi)、離(li)心(xin)沈降儀(yi)、顆粒(li)計(ji)數器(qi)、激光空(kong)氣(qi)粒(li)子計(ji)數器(qi)、凝結核粒(li)子計(ji)數器(qi)、多(duo)通道(dao)粒(li)子計(ji)數器(qi)等過(guo)程(cheng)，目前 廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)為各(ge)省市藥(yao)檢所(suo)、血(xue)液(ye)中心(xin)、防疫(yi)站、中(zhong)心(xin)、質量監督(du)所(suo)等機(ji)構、電子行業(ye)、制藥(yao)車(che)間、半導(dao)體、光學(xue)或(huo)機械(xie)、塑(su)膠、噴(pen)漆(qi)、院、環保(bao)、檢驗所(suo)等企業和(he)科研。

作原(yuan)理(li)

粒(li)子計(ji)數器(qi)是(shi)種利(li)用光的(de)散(san)射原(yuan)理(li)行(xing)塵(chen)粒(li)計(ji)數的(de)儀(yi)器(qi)。光散(san)射和(he)微粒(li)大(da)小(xiao)、光波(bo)波長(chang)、微粒(li)折(zhe)射率及微粒(li)對(dui)光的(de)吸收(shou)性等因素有(you)關。但(dan)是(shi)就散(san)射光強度(du)和(he)微粒(li)大(da)小(xiao)而言(yan)，有個(ge)基本(ben)規律，就是(shi)微粒(li)散(san)射光的(de)強度(du)隨微粒(li)的(de)表面(mian)積增加而(er)增大。這樣(yang)定量的(de)含塵(chen)氣(qi)體通(tong)過(guo)束強光，使粒(li)子發射(she)出(chu)散(san)射光，經過(guo)聚光透鏡投射(she)到光電(dian)倍(bei)增管上，將(jiang)光脈(mai)沖(chong)變為電(dian)脈(mai)沖(chong)，由(you)脈(mai)沖(chong)數求得顆粒(li)數。根(gen)據粒(li)子散(san)射光的(de)強度(du)與粒(li)徑的(de)函數關系(xi)得出粒(li)子直徑。這樣(yang)只(zhi)要測(ce)定(ding)散(san)射光的(de)強度(du)就可推(tui)知微粒(li)的(de)大小(xiao)，就是(shi)光散(san)射式粒(li)子計(ji)數器(qi)的(de)基本(ben)原(yuan)理(li)

操(cao)作方(fang)法(fa)

不(bu)同(tong)型號(hao)的(de)粒(li)子計(ji)數器(qi)，在(zai)能方(fang)面和(he)操作界(jie)面(mian)方(fang)面會有(you)些(xie)差別，但(dan)基本(ben)的(de)操作步(bu)驟是(shi)差不(bu)多(duo)的(de):

1.打開(kai)電(dian)源預(yu)熱(re)。

2.設(she)置(zhi)作參(can)數，如(ru)果(guo)和(he)上次(ci)樣(yang)不需要更(geng)改可(ke)以(yi)跳(tiao)過(guo)，具體的(de)按鍵(jian)操作參(can)考(kao)每臺儀(yi)器(qi)的(de)產品(pin)介紹。註意在(zai)采樣(yang)狀態下(xia)，設(she)置(zhi)是(shi)無效(xiao)的(de)。

3.設(she)置(zhi)成後(hou)，即(ji)可開(kai)始(shi)采樣(yang)測(ce)定(ding)，讀取數據(ju)。

4.連(lian)接打印(yin)機(ji)，將(jiang)數據(ju)導(dao)出(chu)打印(yin)出(chu)來(lai)，些有內置(zhi)打印(yin)機(ji)的(de)產品(pin)可以直接打印(yin)。