北(bei)京(jing)恒奧(ao)德儀器(qi)儀表(biao)有(you)限公司
聯系人(ren):王蕊
公司郵箱(xiang):[email protected]
辦(ban)公地(di)址(zhi):北(bei)京(jing)市(shi)海澱區(qu)富海中心(xin)
恒奧(ao)德儀器(qi)教(jiao)您(nin)如何選購塗(tu)層(ceng)測厚(hou)儀
選(xuan)型(xing)方(fang)法(fa)
用(yong)戶可以根(gen)據測量(liang)的需要選用(yong)不(bu)同的測(ce)厚(hou)儀,磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀和(he)渦(wo)測厚(hou)儀般測(ce)量(liang)的厚(hou)度適用0-5毫(hao)米,這(zhe)類儀器(qi)又(you)分探頭與主(zhu)機(ji)體型(xing),探(tan)頭(tou)與(yu)主(zhu)機(ji)分(fen)離(li)型(xing),前(qian)者(zhe)操作便捷(jie),後者(zhe)適用於測非(fei)平(ping)面的外形。更厚(hou)的致密(mi)材質材料要(yao)用(yong)聲波(bo)測厚(hou)儀來(lai)測(ce),測量(liang)的厚(hou)度可以達到0.7-250毫(hao)米。電(dian)解(jie)法(fa)測(ce)厚(hou)儀適合測(ce)量(liang)很細(xi)的線(xian)上(shang)面電(dian)鍍(du)的金(jin),銀(yin)等(deng)金(jin)屬的厚(hou)度。
兩(liang)用型(xing)
體兩(liang)用(yong)型(xing)
儀器(qi)由德,集合(he)了磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀和(he)渦(wo)測厚(hou)儀兩(liang)種(zhong)儀器(qi)的能(neng),可用於測量(liang)鐵及(ji)非鐵(tie)金屬基(ji)體上(shang)塗(tu)層(ceng)的厚(hou)度。如(ru):
* 鋼鐵上(shang)的銅(tong)、鉻、鋅等(deng)電(dian)鍍(du)層(ceng)或油漆(qi)、塗(tu)料、搪(tang)瓷(ci)等(deng)塗(tu)層(ceng)厚(hou)度。
* 鋁(lv)、鎂材料上(shang)陽氧(yang)化(hua)膜的厚(hou)度。
* 銅(tong)、鋁、鎂(mei)、鋅等非(fei)鐵(tie)金屬材料上(shang)的塗(tu)層(ceng)厚(hou)度。
* 鋁(lv)、銅、金(jin)等箔帶材及(ji)紙張(zhang)、塑(su)料膜(mo)的厚(hou)度。
* 各(ge)種鋼鐵及(ji)非鐵(tie)金屬材料上(shang)熱噴(pen)塗(tu)層(ceng)的厚(hou)度。
儀器(qi)符(fu)合家標準(zhun)GB/T4956和(he)GB/T4957,可用於檢驗(yan)、驗(yan)收(shou)檢驗(yan)及(ji)質量(liang)監(jian)督檢驗(yan)。
分(fen)體兩(liang)用(yong)型(xing)
儀器(qi)點
采(cai)用(yong)雙能(neng)內(nei)置(zhi)式(shi)探(tan)頭,自(zi)動(dong)識(shi)別(bie)鐵(tie)基(ji)或非鐵基(ji)體材料,並選擇(ze)相應(ying)的測(ce)量(liang)方式(shi)行(xing)測量(liang)。
符合(he)人(ren)體程(cheng)學的雙顯示(shi)屏(ping)結(jie)構,可以在(zai)何測(ce)量(liang)位置(zhi)讀取測量(liang)數(shu)據。
采(cai)用(yong)手(shou)機(ji)菜單式(shi)能(neng)選(xuan)擇(ze)方式(shi),操作十分(fen)簡(jian)便。
可設定上(shang)下(xia)限(xian)值(zhi),測(ce)量(liang)結果(guo)出或符合上(shang)下(xia)限(xian)數(shu)值(zhi)時(shi),儀器(qi)會發(fa)出(chu)相應(ying)的聲(sheng)音或閃爍燈(deng)提示。
穩定性(xing),通(tong)常不(bu)校正(zheng)便可長(chang)期使用。
規格
量(liang) 程(cheng): 0~2000μm ,
電(dian) 源(yuan): 兩(liang)節5號(hao)電(dian)池(chi)
標(biao)準(zhun)配置(zhi)
常規型(xing)
對(dui)材料表(biao)面(mian)保護(hu)、裝飾(shi)形成的覆(fu)蓋(gai)層(ceng),如塗(tu)層(ceng)、鍍(du)層(ceng)、敷(fu)層(ceng)、貼(tie)層(ceng)、化學(xue)生(sheng)成膜等,在有(you)關家和(he)際標(biao)準(zhun)中稱(cheng)為(wei)覆(fu)層(ceng)(coating)。
覆層(ceng)厚(hou)度測(ce)量(liang)已成為業、表面(mian)程(cheng)的重(zhong)要環(huan),是(shi)產品(pin)達到優等質量(liang)標準(zhun)的手(shou)段。為使產品(pin)際化,我出口(kou)商品和(he)涉(she)外項目(mu)中(zhong),對(dui)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度有(you)了明(ming)確的要(yao)求(qiu)。
覆(fu)層(ceng)厚(hou)度的測(ce)量(liang)方法(fa)主(zhu)要(yao)有(you):楔(xie)切(qie)法(fa),光(guang)截法(fa),電(dian)解(jie)法(fa),厚(hou)度差測量(liang)法(fa),稱(cheng)重(zhong)法(fa),X射(she)線(xian)熒光(guang)法(fa),β射(she)線(xian)反(fan)向散射(she)法(fa),電(dian)容法(fa)、磁(ci)性(xing)測(ce)量(liang)法(fa)及(ji)渦(wo)測量(liang)法(fa)等(deng)。這(zhe)些方法(fa)中(zhong)前(qian)五種是(shi)有(you)損檢測(ce),測(ce)量(liang)手段繁瑣,速度慢,多適用於抽樣檢驗(yan)。
X射(she)線(xian)和(he)β射(she)線(xian)法(fa)是(shi)無(wu)接觸(chu)無(wu)損測(ce)量(liang),但(dan)裝置(zhi)復(fu)雜昂(ang)貴(gui),測量(liang)範(fan)圍較小(xiao)。因(yin)有放射(she)源(yuan),使用者(zhe)遵守射(she)線(xian)防護(hu)規範(fan)。X射(she)線(xian)法(fa)可測薄(bo)鍍(du)層(ceng)、雙鍍(du)層(ceng)、合金(jin)鍍(du)層(ceng)。β射(she)線(xian)法(fa)適合鍍(du)層(ceng)和(he)底材原子序(xu)號(hao)大於3的鍍(du)層(ceng)測量(liang)。電(dian)容法(fa)僅(jin)在(zai)薄(bo)導電(dian)體的緣(yuan)覆層(ceng)測厚(hou)時(shi)采(cai)用(yong)。
隨著(zhe)的日益步,別是(shi)近(jin)年來(lai)引入微(wei)機(ji)後,采(cai)用(yong)磁(ci)性(xing)法(fa)和(he)渦(wo)法(fa)的測(ce)厚(hou)儀向微(wei)型(xing)、智(zhi)能(neng)、、度、實(shi)用化(hua)的方(fang)向了步。測(ce)量(liang)的分(fen)辨率(lv)已達0.1微(wei)米(mi),度可達到1%,有了大(da)幅度的提。它適用範(fan)圍廣,量(liang)程(cheng)寬、操作簡便且價(jia)廉,是業和(he)科研使用廣泛(fan)的測(ce)厚(hou)儀器(qi)。
采(cai)用(yong)無(wu)損方(fang)法(fa)既不(bu)破壞(huai)覆(fu)層(ceng)也不(bu)破壞(huai)基(ji)材,檢測(ce)速(su)度快,能(neng)使大量(liang)的檢測(ce)作經(jing)濟(ji)地(di)行(xing)。
原理(li)
磁(ci)吸力測量(liang)原理(li)
采(cai)用(yong)磁(ci)感(gan)應(ying)原理(li)時(shi),利用(yong)從測頭經(jing)過(guo)非(fei)鐵(tie)磁(ci)覆層(ceng)而(er)入鐵(tie)磁(ci)基體的磁(ci)通(tong)的大(da)小(xiao),來測(ce)定覆(fu)層(ceng)厚(hou)度。也(ye)可以測(ce)定與(yu)之對(dui)應(ying)的磁(ci)阻的大(da)小(xiao),來表(biao)示其(qi)覆層(ceng)厚(hou)度。覆(fu)層(ceng)越(yue)厚(hou),則磁(ci)阻
越(yue)大,磁(ci)通(tong)越(yue)小(xiao)。利用(yong)磁(ci)感(gan)應(ying)原理(li)的測(ce)厚(hou)儀,原(yuan)則上(shang)可以有(you)導磁(ci)基體上(shang)的非(fei)導磁(ci)覆層(ceng)厚(hou)度。般要(yao)求(qiu)基(ji)材導磁(ci)率(lv)在500以(yi)上(shang)。如果(guo)覆層(ceng)材料也(ye)有(you)磁(ci)性(xing),則要求(qiu)與(yu)基(ji)材的導磁(ci)率(lv)之差足(zu)夠大(da)(如(ru)鋼上(shang)鍍(du)鎳(nie))。當(dang)軟(ruan)芯(xin)上(shang)繞著線(xian)圈(quan)的測(ce)頭放(fang)在被(bei)測(ce)樣本(ben)上(shang)時(shi),儀器(qi)自(zi)動(dong)輸出(chu)測試(shi)電(dian)或測試(shi)信號(hao)。早期的產(chan)品采(cai)用(yong)針式(shi)表(biao)頭,測量(liang)感(gan)應(ying)電(dian)動(dong)勢的大(da)小(xiao),儀器(qi)將(jiang)該(gai)信(xin)號(hao)放大(da)後(hou)來(lai)示覆層(ceng)厚(hou)度。近(jin)年來(lai)的電(dian)路(lu)引入穩(wen)頻(pin)、鎖(suo)相、溫度補(bu)償(chang)等地(di)新,利(li)用磁(ci)阻來調(tiao)制(zhi)測量(liang)信號(hao)。還(hai)采(cai)用(yong)好(hao)的的集成電(dian)路(lu),引入微(wei)機(ji),使測量(liang)度和(he)重(zhong)現(xian)性(xing)有(you)了(le)大(da)幅度的提(幾(ji)乎達個(ge)數(shu)量(liang))。現(xian)代(dai)的磁(ci)感(gan)應(ying)測厚(hou)儀,分(fen)辨(bian)率(lv)達到0.1um,允許(xu)誤(wu)差達1%,量(liang)程(cheng)達10mm。
磁(ci)性(xing)原(yuan)理(li)測厚(hou)儀可應(ying)用來(lai)測(ce)量(liang)鋼鐵表(biao)面的油漆(qi)層(ceng),瓷(ci)、搪(tang)瓷(ci)防(fang)護(hu)層(ceng),塑(su)料、橡(xiang)膠(jiao)覆層(ceng),包括(kuo)鎳(nie)鉻在內(nei)的各(ge)種有(you)色(se)金屬電(dian)鍍(du)層(ceng),以及(ji)化石油待(dai)業(ye)的各(ge)種防(fang)腐(fu)塗(tu)層(ceng)。
電(dian)渦(wo)測量(liang)原理(li)
頻交(jiao)信號(hao)在測(ce)頭(tou)線(xian)圈(quan)中產生(sheng)電(dian)磁(ci)場,測(ce)頭靠近(jin)導體時(shi),就在其(qi)中形成渦(wo)。測頭(tou)離(li)導電(dian)基(ji)體愈(yu)近(jin),則渦(wo)愈(yu)大(da),反(fan)射(she)阻抗也愈(yu)大(da)。
這(zhe)個(ge)反(fan)饋(kui)作用量(liang)表征了(le)測(ce)頭與(yu)導電(dian)基(ji)體之間(jian)距(ju)離(li)的大(da)小(xiao),也就是導電(dian)基(ji)體上(shang)非導電(dian)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度的大(da)小(xiao)。由於這類測(ce)頭(tou)門(men)測(ce)量(liang)非鐵(tie)磁(ci)金屬基(ji)材上(shang)的覆(fu)層(ceng)厚(hou)度,所(suo)以通(tong)常稱之為(wei)非(fei)磁(ci)性(xing)測(ce)頭(tou)。非(fei)磁(ci)性(xing)測(ce)頭(tou)采(cai)用(yong)頻(pin)材料做(zuo)線(xian)圈(quan)鐵芯,例(li)如鉑(bo)鎳合金或其(qi)它新材料。與(yu)磁(ci)感(gan)應(ying)原理(li),主(zhu)要(yao)區(qu)別(bie)是測(ce)頭不(bu)同,信(xin)號(hao)的頻(pin)率(lv)不(bu)同,信(xin)號(hao)的大(da)小(xiao)、標度關系(xi)不(bu)同。與(yu)磁(ci)感(gan)應(ying)測厚(hou)儀樣(yang),渦(wo)測厚(hou)儀也(ye)達到了分辨(bian)率(lv)0.1um,允許(xu)誤(wu)差1%,量(liang)程(cheng)10mm的水(shui)平。
采(cai)用(yong)電(dian)渦(wo)原理(li)的測(ce)厚(hou)儀,原(yuan)則上(shang)對(dui)所(suo)有導電(dian)體上(shang)的非(fei)導電(dian)體覆(fu)層(ceng)均(jun)可測量(liang),如航天(tian)航空(kong)器表面(mian)、車(che)輛、家電(dian)、鋁(lv)合(he)金(jin)門(men)窗及(ji)其(qi)它鋁(lv)制(zhi)品(pin)表(biao)面(mian)的漆(qi),塑(su)料塗(tu)層(ceng)及(ji)陽氧(yang)化膜(mo)。覆層(ceng)材料有(you)定(ding)的導電(dian)性(xing),通(tong)過(guo)校(xiao)準(zhun)同樣(yang)也(ye)可測量(liang),但(dan)要求(qiu)兩(liang)者(zhe)的導電(dian)率(lv)之比(bi)至(zhi)少相差3-5倍(如銅上(shang)鍍(du)鉻)。雖(sui)然(ran)鋼鐵基(ji)體亦(yi)為導電(dian)體,但(dan)這類務(wu)還(hai)是(shi)采(cai)用(yong)磁(ci)性(xing)原(yuan)理(li)測量(liang)較為(wei)合適
