水(shui)質(zhi)透(tou)明(ming)度(du)檢(jian)測儀  型(xing)號：H28553

水(shui)質(zhi)透(tou)明(ming)度(du)檢(jian)測儀TD是(shi)水(shui)體(ti)透(tou)明(ming)度(du)，H28553分(fen)析(xi)儀是針對此(ci)設計(ji)的(de)計(ji)量器(qi)，可(ke)看(kan)出水(shui)中無(wu)機物(wu)或(huo)有(you)機物(wu)的(de)濃(nong)度(du)值(zhi)。屬(shu)於(yu)水(shui)質(zhi)的(de)初(chu)期(qi)性(xing)的(de)檢(jian)驗，檢測水(shui)中透(tou)明(ming)度(du)（TD）即檢(jian)驗出在(zai)水(shui)中各類不(bu)透(tou)光雜質的(de)含(han)量。

H28553技術(shu)參數(shu)
測量原(yuan)理(li) 光學探(tan)測
測量方(fang)式(shi) 自(zi)動流(liu)通式(shi)
測量範圍 0-100%
測量精度(du) 2%
壓力範圍 ≤0.6Mpa
響(xiang)應時(shi)間(jian) ≤10 秒(miao)（達(da)到(dao)終(zhong)點(dian)值(zhi)95%）（經攪拌(ban)後(hou)）
傳(chuan)感器(qi) 光敏池
環境溫(wen)度(du) 0到(dao)65℃
介質(zhi)溫(wen)度(du) 0到(dao)80℃
尺(chi)寸(cun) 500x310x750
重量 30kg
工(gong)作(zuo)電壓 220VAC/50W

2.電阻(zu)率/方(fang)塊電阻(zu)測試(shi)儀 型(xing)號：HAD-DB1

本(ben)HAD-DB1方(fang)阻(zu)測試(shi)新(xin)產(chan)品(pin)為薄膜測試(shi)提(ti)供機(ji)械、電氣(qi)兩方(fang)面(mian)的(de)保(bao)護，在(zai)寬廣(guang)的(de)量程(cheng)範圍內，使(shi)各種電子薄膜能得到(dao)準確(que)、無(wu)損(sun)的(de)方(fang)塊電阻(zu)測量結(jie)果。

由於新(xin)型(xing)薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)種類繁(fan)多(duo)，研(yan)制過程(cheng)中樣品(pin)性(xing)能變化(hua)較大(da)，而(er)且各種薄膜(mo)的(de)機(ji)械強度(du)，允(yun)許承受的(de)電壓、電流(liu)均(jun)不相(xiang)同，因此(ci)HAD-DB1型(xing)測試(shi)儀可(ke)為(wei)用戶(hu)量身(shen)定制各種特定探(tan)針(zhen)壓力及曲率(lv)半徑的(de)探(tan)針(zhen)頭，儀器(qi)的(de)測試(shi)電流(liu)分7檔(dang)，可(ke)由0.4μA增加(jia)到(dao)最大為(wei)1000mA，測試(shi)電壓可(ke)由8V增加(jia)到(dao)80V，測試(shi)電壓和測試(shi)電流(liu)均(jun)可(ke)連續(xu)調節(jie)，給(gei)薄膜、塗(tu)層的(de)研(yan)制者提(ti)供了(le)壹個(ge)摸索(suo)最佳(jia)測試(shi)條(tiao)件(jian)的(de)寬闊空間。

由於儀器(qi)設(she)有(you)恒流(liu)源(yuan)開(kai)關，並(bing)且所有(you)電流(liu)檔在(zai)探(tan)針(zhen)與樣品(pin)接(jie)觸(chu)後(hou)均(jun)有(you)電流(liu)延時(shi)接(jie)通(tong)的(de)功(gong)能，充分保護了樣品(pin)表(biao)面(mian)不(bu)會(hui)因為探(tan)針(zhen)接(jie)觸(chu)時(shi)產(chan)生的(de)電火花(hua)而(er)受(shou)到(dao)損(sun)壞(huai)。

HAD-DB1儀器(qi)性(xing)能

方(fang)阻(zu)測量範圍：1×10-5～2×106Ω/□，最小分辨率1×10-5Ω/□；

電阻(zu)率測量範圍：1×10-6～2×105Ω·cm或(huo)1×10-8～2×103Ω·m，最小分辨率1×10-6Ω·cm或(huo)1×10-8Ω·m；

探(tan)針(zhen)壓力：25g～250g；

探(tan)針(zhen)曲率半徑：25μm～450μm

（註(zhu)：探(tan)針(zhen)壓力及曲率(lv)半徑可(ke)根據(ju)薄(bo)膜(mo)材(cai)料(liao)性(xing)能及用戶(hu)需求定制）；

測試(shi)電流(liu)分7檔(dang)：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

測試(shi)電壓：（1μA～10 mA檔(dang)）12～80V連續(xu)可(ke)調(tiao)

           （100mA檔(dang)）    8～36V連續(xu)可(ke)調(tiao)

          （1000mA檔(dang)）    8～15V連續(xu)可(ke)調(tiao)；

測量方(fang)式(shi)：手(shou)動或(huo)自(zi)動（選(xuan)配(pei)專用測試(shi)軟(ruan)件(jian)）；

測量對(dui)象(xiang)：導(dao)電薄膜、半導體薄(bo)膜、電力電容器(qi)鋁箔、各種金屬箔(bo)、銀漿(jiang)塗(tu)層、鋰(li)電池隔(ge)膜(mo)等各種新(xin)型(xing)電子薄膜；各種半導體材(cai)料的(de)電阻(zu)率。

3.多(duo)通(tong)道(dao)溫濕度(du)記(ji)錄(lu)儀  土(tu)壤(rang)水(shui)分(fen)溫度(du)鹽(yan)份(fen)測定儀  型(xing)號：HAD-MTR04

壹(yi)．HAD-MTR04水(shui)分(fen)溫度(du)測量儀儀器(qi)用途：
土(tu)壤(rang)水(shui)分(fen)和溫(wen)度(du)是(shi)土(tu)壤(rang)的(de)重要(yao)組成(cheng)部(bu)分，對作物(wu)的(de)生長、節水(shui)灌(guan)溉(gai)等有(you)著非常(chang)重要(yao)的(de)作(zuo)用。通過GPS定位(wei)系統掌握(wo)土(tu)壤(rang)的(de)水(shui)分(fen)（墑情(qing)）的(de)分(fen)布(bu)狀(zhuang)況(kuang)，為(wei)差(cha)異(yi)化(hua)的(de)節(jie)水(shui)灌(guan)概(gai)提(ti)供科學的(de)依(yi)據(ju)，同(tong)時(shi)精確(que)的(de)供(gong)水(shui)也(ye)有(you)利於(yu)提(ti)高作物(wu)的(de)產(chan)量和(he)品(pin)質(zhi)。 

二(er).HAD-MTR04土(tu)壤(rang)水(shui)分(fen)溫度(du)測量儀功(gong)能特點(dian)： 
壹(yi)鍵(jian)式(shi)切(qie)換(huan)，可(ke)以(yi)手動記錄(lu)也可(ke)脫離電腦隨(sui)時(shi)設(she)置(zhi)采樣間(jian)隔(ge)，
交(jiao)直(zhi)流(liu)兩用，既可(ke)拿(na)到(dao)野外隨(sui)時(shi)測量采集數(shu)據(ju)，也(ye)可(ke)長(chang)時(shi)間(jian)放置(zhi)記錄(lu)地點。
帶(dai)GPS定位(wei)功(gong)能，數(shu)據(ju)可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)遠程傳(chuan)輸(shu)。
 既(ji)可(ke)在(zai)主機(ji)上查(zha)看(kan)數(shu)據(ju)，也(ye)可(ke)導(dao)入計(ji)算(suan)機(ji)進行(xing)查(zha)看(kan)。
探(tan)頭(tou)具有(you)壹致(zhi)性(xing)，不同(tong)氣(qi)象(xiang)參(can)數(shu)的(de)傳(chuan)感器(qi)接(jie)口(kou)可(ke)以(yi)互(hu)換(huan)，不影響(xiang)精度(du)。。
儀器(qi)具(ju)有(you)256通(tong)道(dao)同時(shi)檢(jian)測的(de)擴(kuo)展(zhan)功(gong)能，可(ke)以(yi)實(shi)現(xian)多(duo)點(dian)同(tong)步(bu)檢測，可(ke)按需要(yao)自行(xing)組(zu)合。

三(san)．HAD-MTR04技術(shu)參數(shu)
1、內置(zhi)GPS 定位(wei)芯片，精確(que)定位(wei)顯示(shi)經緯(wei)度(du)
2、記(ji)錄(lu)容量：520000 條(tiao)數(shu)據(ju)
3、記(ji)錄(lu)時(shi)間(jian)間隔(ge)：2 秒(miao)-90 小時(shi)連續(xu)可(ke)調(tiao)
4、傳(chuan)感器(qi)通(tong)訊：RS485、USB 接(jie)口(kou)
5、上(shang)微(wei)機通訊：USB1.1
6、電源(yuan)：5 節5 號電池，9V／2A 電源(yuan)適(shi)配(pei)器(qi)
土(tu)壤(rang)水(shui)分(fen)技術(shu)參數(shu)
1、水(shui)分(fen)單位(wei)：%（m3/m3）
2、含(han)水(shui)率(lv)測試(shi)範圍：0-100%3、響(xiang)應時(shi)間(jian)：≤2 秒
4、分(fen)辨率：0.1%
5、相(xiang)對(dui)百分誤(wu)差(cha)：≤2%
土(tu)壤(rang)鹽分(fen)技術(shu)參數(shu)
1、測量範圍：0.00～20.00ms/cm
2、測量精度(du)：EC±2℅滿(man)刻(ke)度(du)
3、分(fen)辨率：0.01ms/cm
4、溫(wen)度(du)補(bu)償(chang)：0～50℃
土(tu)壤(rang)溫度(du)技術(shu)參數(shu)
1、溫(wen)度(du)單(dan)位(wei)：℃
2、測試(shi)範圍：-40-100℃
3、精度(du)：±0.5℃
4、分(fen)辨率：0.1℃

4.智(zhi)能型(xing)測斜(xie)儀 滑(hua)動式測斜(xie)儀  型(xing)號：HAD-CX96

壹(yi)、HAD-CX96用途

HAD-CX96型(xing)智(zhi)能數(shu)顯滑(hua)動式測斜(xie)儀是以進口敏感元(yuan)件(jian)為(wei)測斜(xie)裝置(zhi)。其內部(bu)是以伺服（即力平衡式(shi)）為(wei)基礎的(de)測量系統，其特(te)點精度(du)高、穩(wen)定性(xing)好(hao)、分辨率高，廣(guang)泛(fan)用於以觀測土(tu)石壩(ba)、建築物(wu)基坑、堤(di)防(fang)、地下(xia)建築工(gong)程(cheng)、巖石邊坡港務(wu)工(gong)程(cheng)等(deng)土體(ti)內部(bu)的(de)水(shui)平(ping)位移(yi)變化(hua)。是(shi)需(xu)要(yao)觀測測量工(gong)程(cheng)中必要(yao)的(de)精密測量儀器(qi)。

二(er)、HAD-CX96主要(yao)性(xing)能技術(shu)指(zhi)標(biao)。

測量範圍：0～±30°（與地垂線的(de)夾(jia)角）

分(fen)辯(bian)率：0.0004°

系統精度(du): ∠0.1mm/500mm

系統總精度(du)：∠±6mm/30m

線性(xing)：±0.025%(30°以(yi)內)

重復性(xing)：±0.025%

導(dao)輪(lun)間距基準：500mm

測桿尺(chi)寸(cun)：φ30×660mm

測桿重量：2.35kg

儀表(biao)重量：2.6kg（包(bao)括可(ke)充電電池）

電源(yuan)消耗(hao)：200mA（不(bu)使(shi)用背光燈）可(ke)連續(xu)使(shi)用20小時(shi)

數(shu)據(ju)分(fen)組(zu)：001-255組(zu)

斷(duan)電數(shu)據(ju)：保(bao)存(cun)時(shi)間(jian)10年

使(shi)用環境：-20℃～60℃

抗(kang)    滲: 150m(防(fang)水(shui)防(fang)震)

抗(kang)    震:20000g(敏感(gan)軸方(fang)向,其中g為(wei)1個(ge)單位(wei)的(de)重力加(jia)速度(du))

三(san)、HAD-CX96工(gong)作(zuo)原理(li)

在(zai)巖土工(gong)程領(ling)域，測斜(xie)儀主要(yao)用於測量土(tu)體(ti)運動，諸如(ru)：可(ke)能產(chan)生在(zai)不穩(wen)固(gu)邊坡（滑(hua)坡）或(huo)挖(wa)方(fang)過(guo)程(cheng)中周(zhou)圍的(de)側(ce)向運動等。也(ye)可(ke)用來監(jian)測堤(di)壩(ba)、芯墻的(de)穩(wen)定性(xing)，打樁(zhuang)或(huo)鉆(zuan)孔(kong)的(de)布(bu)置(zhi)和偏(pian)差(cha)，以(yi)及在(zai)回填、築堤(di)和(he)地下(xia)儲(chu)罐中土(tu)體的(de)沈(chen)陷(xian)等(deng)。

所(suo)在(zai)這些(xie)場(chang)合，通(tong)常(chang)要(yao)安裝壹根測斜(xie)管(guan)，將(jiang)其安(an)裝在(zai)地下(xia)的(de)鉆(zuan)孔(kong)內或(huo)將(jiang)管澆(jiao)築在(zai)混凝(ning)土的(de)結(jie)構中，也(ye)可(ke)將(jiang)管埋(mai)在(zai)築堤(di)之(zhi)中。該(gai)測斜(xie)管(guan)有(you)四(si)個(ge)槽口(kou)，用於固(gu)定便攜式測斜(xie)儀探(tan)頭(tou)的(de)滑(hua)輪(lun)。探(tan)頭(tou)連在(zai)和讀(du)數(shu)儀相連的(de)電纜的(de)壹(yi)端(duan)，用於觀測與測斜(xie)相(xiang)關(guan)聯(lian)的(de)豎(shu)直（或(huo)水(shui)平(ping)）傾(qing)斜(xie)量，並(bing)以(yi)這(zhe)種方式(shi)測量由土體(ti)運動所引起(qi)的(de)任(ren)何(he)傾(qing)斜(xie)量的(de)變化(hua)。

為(wei)了(le)獲得安裝測斜(xie)管(guan)的(de)土(tu)體(ti)周(zhou)圍壹(yi)個(ge)全面(mian)的(de)觀(guan)測報(bao)告(gao)，必須沿(yan)測斜(xie)管(guan)進行(xing)壹(yi)系列(lie)傾(qing)斜(xie)測量。常(chang)規的(de)測斜(xie)探(tan)頭(tou)有(you)兩組(zu)滑(hua)輪(lun)，距離相(xiang)隔(ge)0.5米(mi)，測試(shi)前(qian)，先(xian)把(ba)測管(guan)標(biao)明(ming)方(fang)向，測桿標(biao)明(ming)A+、A-，使(shi)計(ji)算(suan)數(shu)據(ju)壹(yi)致(zhi)。將(jiang)探(tan)頭(tou)放到(dao)測斜(xie)管(guan)底部(bu)並(bing)開(kai)始(shi)讀(du)數(shu)。探(tan)頭(tou)每提(ti)升(sheng)0.5米(mi)進行(xing)讀(du)數(shu)，直(zhi)到(dao)到(dao)達(da)測斜(xie)管(guan)的(de)頂部(bu)，這組讀(du)數(shu)被稱為(wei)A+讀(du)數(shu)（正(zheng)測）。把(ba)探(tan)頭(tou)從套管(guan)中取出，旋轉180°重新(xin)放入(ru)測斜(xie)管(guan)中，方(fang)法同(tong)上，又(you)可(ke)得到(dao)另(ling)壹(yi)組(zu)數(shu)據(ju)A-讀(du)數(shu)（反(fan)側(ce)）。

數(shu)據(ju)處(chu)理(li)時(shi)，將(jiang)上述(shu)兩組(zu)讀(du)數(shu)（A+、A-）相(xiang)結(jie)合（將(jiang)壹組(zu)數(shu)據(ju)減(jian)去另(ling)壹(yi)組(zu)數(shu)據(ju)）以(yi)此(ci)來消(xiao)除傾(qing)角(jiao)傳(chuan)感器(qi)零(ling)飄的(de)影響(xiang)。測斜(xie)儀探(tan)頭(tou)在(zai)豎(shu)直位(wei)置(zhi)時(shi)讀(du)數(shu)產(chan)生零飄偏差(cha)，理(li)想(xiang)的(de)偏(pian)差(cha)應(ying)是(shi)零(ling)，而(er)實(shi)際(ji)上在(zai)使(shi)用探(tan)頭(tou)時(shi)，由於傳(chuan)感器(qi)的(de)偏(pian)差(cha)、滑(hua)輪(lun)的(de)磨(mo)損或(huo)者(zhe)因下(xia)落(luo)以(yi)及(ji)和測斜(xie)管(guan)底部(bu)相碰太厲害對傳(chuan)感器(qi)的(de)沖擊(ji)所(suo)導致(zhi)有(you)壹零(ling)飄值。

下(xia)次的(de)測斜(xie)管(guan)觀(guan)測數(shu)據(ju)，當(dang)與原始(shi)的(de)觀(guan)測數(shu)據(ju)了(le)解(jie)相(xiang)比較時(shi)，就(jiu)可(ke)知(zhi)測斜(xie)管(guan)的(de)傾(qing)斜(xie)量變化(hua)和(he)這(zhe)些變化(hua)所(suo)引起(qi)的(de)位(wei)置(zhi)變化(hua)。傾(qing)斜(xie)量變化(hua)分(fen)析(xi)的(de)最好(hao)方式(shi)是(shi)通過(guo)計(ji)算(suan)上(shang)部(bu)滑(hua)輪(lun)相對於下(xia)部(bu)滑(hua)輪(lun)組所產(chan)生的(de)傾(qing)角(jiao)（θ）與觀測讀(du)數(shu)間(jian)距(ju)（L）的(de)水(shui)平(ping)偏移(yi)。在(zai)測斜(xie)各位置(zhi)處兩組(zu)讀(du)數(shu)（A+、A-）相(xiang)減(jian)就可(ke)以(yi)得出Sinθ，把(ba)這個(ge)值乘以讀(du)數(shu)間(jian)距(ju)（L）和相應的(de)系數(shu)，就(jiu)得到(dao)壹(yi)個(ge)以工(gong)程單位（HAD測斜(xie)儀器(qi)上(shang)顯示(shi)為(wei)mm）輸(shu)出的(de)水(shui)平(ping)偏移(yi)。

在(zai)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)的(de)同(tong)時(shi)，應(ying)進行(xing)數(shu)據(ju)可(ke)靠(kao)性(xing)的(de)分(fen)析(xi)，通(tong)常(chang)的(de)分(fen)析(xi)方(fang)法(fa)是“查(zha)和(he)"，即將(jiang)兩組(zu)讀(du)數(shu)（A+、A-）相(xiang)加(jia)，相(xiang)加(jia)後(hou)的(de)由傾(qing)斜(xie)引起(qi)的(de)那部(bu)分讀(du)數(shu)被抵消(xiao)，只留(liu)下(xia)壹(yi)個(ge)等於(yu)測斜(xie)儀傳(chuan)感器(qi)零(ling)偏移(yi)兩倍(bei)的(de)壹(yi)個(ge)值，在(zai)北航軟(ruan)件(jian)中表(biao)示(shi)為(wei)“差值"項(xiang)，當(dang)查(zha)和(he)值(zhi)或(huo)軟(ruan)件(jian)中“差(cha)值"項(xiang)為常(chang)量時(shi)，說明(ming)測量的(de)數(shu)據(ju)有(you)較高的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)，反(fan)之(zhi)，如(ru)果差值(zhi)出現軟(ruan)大的(de)變動或(huo)突(tu)變，說明(ming)測量數(shu)據(ju)存(cun)在(zai)問(wen)題(ti)，這(zhe)時(shi)應(ying)首先(xian)檢(jian)查(zha)測量過(guo)程(cheng)中下(xia)列(lie)幾個(ge)情(qing)況：

1、跳(tiao)過(guo)或(huo)重復讀(du)取下(xia)壹(yi)個(ge)讀(du)數(shu)；

2、讀(du)數(shu)之(zhi)間(jian)，沒有(you)使(shi)測斜(xie)儀靜(jing)置(zhi)足(zu)夠(gou)的(de)時(shi)間(jian)；

3、探(tan)頭(tou)、電纜或(huo)讀(du)數(shu)裝置(zhi)故(gu)障(zhang)。這(zhe)也(ye)許是由於震動、受潮(chao)、電池缺電、探(tan)頭(tou)或(huo)電纜的(de)開(kai)路或(huo)短(duan)路造成(cheng)的(de)。

4、不(bu)小心地安放滑(hua)輪(lun)使(shi)得探(tan)頭(tou)滑(hua)輪(lun)組壹次觀(guan)測與另壹(yi)次觀(guan)測不(bu)在(zai)同壹(yi)位置(zhi)。

5、將(jiang)滑(hua)輪(lun)正好(hao)放置(zhi)在(zai)測斜(xie)管(guan)接(jie)頭(tou)處，以致讀(du)數(shu)不(bu)穩(wen)定或(huo)出錯。

四(si)、HAD-CX96功(gong)能

HAD-CX96測斜(xie)儀適(shi)用於測斜(xie)探(tan)頭(tou)輸(shu)出電壓為±2.5V測斜(xie)探(tan)頭(tou)，內置(zhi)20Bit超(chao)高分辯(bian)率數(shu)模轉換(huan)器(qi)，儀器(qi)配(pei)置(zhi)64K存(cun)貯(zhu)器(qi)及(ji)RS-232電腦接(jie)口(kou)，隨(sui)機(ji)提(ti)供的(de)通(tong)訊(xun)及(ji)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟(ruan)件(jian)，供(gong)使(shi)用微機與其通(tong)訊上載數(shu)據(ju)供(gong)進壹步的(de)分(fen)析(xi)處(chu)理(li)。

儀器(qi)帶(dai)有(you)內置(zhi)充電電池及防(fang)水(shui)薄(bo)膜面(mian)板，便於現場(chang)惡(e)劣環境中使(shi)用。

註(zhu)：開(kai)機後(hou)屏(ping)幕(mu)顯示(shi)：HAD-CX96活(huo)動測斜(xie)儀(Ver2.0A),其中Ver2.0A表(biao)示(shi)的(de)儀器(qi)帶(dai)有(you)低(di)電壓檢測及(ji)自(zi)動關機(ji)功(gong)能

5.實(shi)驗室鹽度(du)計(ji)   型(xing)號：HAD-DA1
儀器(qi)簡(jian)介
    HAD-DA1型(xing)實(shi)驗室鹽度(du)計(ji)，是(shi)壹(yi)款(kuan)廣(guang)泛(fan)應用於海洋基(ji)站及(ji)周邊環境的(de)系統性(xing)海水(shui)鹽(yan)度(du)分(fen)析(xi)測試(shi)的(de)精密儀器(qi)，可(ke)實(shi)現(xian)實(shi)地海水(shui)取樣後(hou)現(xian)場(chang)分(fen)析(xi)亦(yi)或(huo)是(shi)進行(xing)取樣後(hou)科考實(shi)驗室進行(xing)多(duo)層(ceng)次比對測試(shi)分(fen)析(xi)，其特(te)點是具(ju)備可(ke)在(zai)常(chang)溫(wen)環境下(xia)，進行(xing)海水(shui)鹽(yan)度(du)測試(shi)分(fen)析(xi)。
儀器(qi)主機(ji)包(bao)括電導池、試驗水(shui)槽(cao)、定標(biao)數(shu)據(ju)源(yuan)、分析(xi)電路、智(zhi)能中控後(hou)臺(tai)、即時(shi)打(da)印機及外部(bu)輸(shu)出功(gong)能接(jie)口(kou)等。

HAD-DA1技術(shu)指(zhi)標(biao)
 1. 鹽(yan)度(du)範圍：2~42
 2. 分(fen)辨率：0.001。
 3. 精度(du)：±0.002
 4. 準確(que)度(du)：±0.005
5. 溫(wen)度(du)範圍：5℃~35℃
6. 溫(wen)度(du)準確(que)度(du)：±0.1℃
 7. 測試(shi)輸(shu)入(ru)形(xing)式(shi)：測量時(shi)具(ju)備自(zi)動定標(biao)、自動采集功(gong)能。
 8. 測值(zhi)輸(shu)出形(xing)式(shi)：具備采集數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)，回調功(gong)能，支持(chi)電腦實(shi)時(shi)控制，實(shi)時(shi)顯示(shi)（功(gong)能可(ke)選(xuan)）。
 9. 操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)：彩(cai)色液(ye)晶顯示(shi)界(jie)面(mian)，全觸(chu)控操作(zuo)方(fang)式。
 10.使(shi)用環境條(tiao)件(jian)：
工(gong)作(zuo)溫度(du)：5℃~35℃
儲(chu)存(cun)溫度(du)：-40℃~55℃
相(xiang)對(dui)濕度(du)：＜90%

以(yi)上(shang)參數(shu)資(zi)料(liao)與圖片相對(dui)應