北京恒奧(ao)德(de)儀(yi)器儀(yi)表有限公(gong)司(si)
聯(lian)系(xi)人:王(wang)蕊
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辦公地(di)址:北京市海澱區(qu)富(fu)海中心(xin)
HAD-PCT200互(hu)感(gan)器綜合(he)測(ce)試儀(yi)的(de)詳(xiang)細(xi)資(zi)料:
互(hu)感(gan)器綜合(he)測(ce)試儀(yi)型(xing)號(hao):HAD-PCT200
是(shi)業(ye)用於(yu)電(dian)互(hu)感(gan)器性測(ce)試的(de)測(ce)試儀(yi),能(neng)夠(gou)滿(man)足(zu)各(ge)種(zhong)互感(gan)器的(de)測(ce)試。相(xiang)較於HAD-PCT200L,測(ce)試能(neng)更面(mian)、參(can)數更,已(yi)經能(neng)夠(gou)成測(ce)量(liang)CT以及(ji)TPYCT的(de)測(ce)試。增加(jia)能(neng)主(zhu)要包括(kuo)比(bi)差(cha)、角(jiao)差測(ce)量(liang)(標中制(zhi)定的(de)測(ce)量(liang)點),儀(yi)表保安系數、電感(gan)量等穩態(tai)參(can)數以及(ji)峰瞬誤(wu)差等暫(zan)態(tai)參(can)數。 試驗(yan)能(neng): CT測(ce)試: 變比 性 比差、角(jiao)差(cha) 快速變比 猜(cai)變比 匝(za)比(bi)、匝比誤(wu)差 二(er)次(ci)直阻(zu) 負(fu)載(zai)阻(zu)抗(kang) 勵(li)磁性 5%、10%誤差曲(qu)線(xian) 手動(dong)退磁 剩(sheng)磁系數Kr 二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數Ts 不飽(bao)和電感(gan)Lu 飽和電感(gan)Ls 儀(yi)表保安系數FS 準(zhun)確(que)限(xian)值(zhi)系數 復(fu)合(he)誤(wu)差(cha) 二(er)次(ci)限感(gan)應電動(dong)勢Eal 暫(zan)態(tai)面(mian)積系數Ktd 額定對稱短(duan)路(lu)電倍(bei)數Kssc 峰損誤(wu)差(cha)εˆ PT測(ce)試: 變比 性 勵磁性 參(can)數: 輸出(chu)電壓: 0~120V 輸出(chu)電: 0~5Arms(15A峰值) 拐(guai)點電壓: 45000V 變比測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei): 1~35000 變比測(ce)量(liang)大(da)允(yun)許誤差(cha): ±0.1% 相(xiang)位(wei)測(ce)量(liang)大(da)允(yun)許誤差(cha): ±3min 二(er)次(ci)繞(rao)組(zu)電阻(zu)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei): 0.05~200Ω 二次(ci)繞(rao)組(zu)電阻(zu)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha): ±(0.1%×讀數+1mΩ) 二次(ci)負載(zai)阻(zu)抗(kang)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei): 0.05~200Ω 二次(ci)負載(zai)阻(zu)抗(kang)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha): ±(0.1%×讀數+1mΩ) 輸入(ru)電源(yuan)電壓: AC220V±10%,50HZ 環境(jing)溫度(du): -10℃~50℃ 相(xiang)對(dui)濕(shi)度(du): ≤90%不結(jie)露 箱(xiang)體(ti)尺寸: 320mm x364mm x 155mm(寬(kuan) x x 長(chang)) 機箱(xiang)重量: 11Kg 液晶(jing)顯示(shi): 8.4寸(cun) 真(zhen)彩屏(強(qiang)光(guang)下可(ke)見(jian)) 操作(zuo)系(xi)統: windows XP操作(zuo)系(xi)統 點: ◆儀(yi)器采(cai)用(yong)新(xin)的(de)直法(fa)原理,勵(li)磁性測(ce)試速度(du)快。 ◆通過(guo)武所(suo)的(de)檢測(ce),具(ju)有武所(suo)出(chu)具的(de)校準(zhun)證(zheng)書(shu),報(bao)告內容包括(kuo)比(bi)差(cha)、角(jiao)差度(du)測(ce)試,儀(yi)器穩(wen)定性測(ce)試。 ◆8.4寸真彩液晶(jing)屏,中(zhong)文(wen)彩色圖形(xing)界(jie)面(mian),方便人機交換 ◆中文(wen)智(zhi)能(neng)輸入(ru)法(fa),使用(yong)方便 ◆整(zheng)機體(ti)化(hua)結(jie)構(gou),使(shi)用(yong)抗(kang)震(zhen)動(dong)、抗(kang)電(dian)磁幹(gan)擾(rao)組(zu)合機箱(xiang)。 ◆內置(zhi)控(kong)機,操作(zuo)方便,所(suo)有的(de)測(ce)試自動成並基於同接(jie)線(xian),減(jian)少了測(ce)試時(shi)間(jian)。 ◆僅(jin)需輸出(chu)較小電壓和率,因而體(ti)積小,重量輕(qing),尤(you)其利於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試。 ◆內置(zhi)線(xian)性放大器,響(xiang)應時(shi)間(jian)快、度(du)、可(ke)靠(kao)性,大輸出(chu)交電壓120V,大輸出(chu)電5Arms(15A峰值)。 ◆用(yong)電(dian)壓法(fa)測(ce)量(liang)CT,*擺(bai)脫傳統電(dian)法(fa)無(wu)法(fa)做(zuo)套管CT、GIS CT的(de)禁錮(gu),測(ce)試變比達(da)35000:1 ◆儀(yi)器采(cai)用(yong)新(xin)的(de)直方波法(fa)原理,可(ke)以測(ce)試拐(guai)點電壓達45000伏的(de)CT,勵磁(ci)性測(ce)試速度(du)快,突破了傳統頻法(fa)的(de)局(ju)限性,面(mian)越(yue)傳統測(ce)試儀(yi)器。 ◆能(neng)面(mian),可用(yong)於各(ge)種(zhong)型(xing)號(hao)CT(含TP類)的(de)勵磁(ci)、變比、性、二次(ci)繞(rao)組(zu)電阻(zu)、負(fu)荷(he)、比差(cha)以及(ji)角(jiao)差等穩態(tai)或暫(zan)態(tai)性測(ce)試。 ◆自動測(ce)出(chu)拐(guai)點電壓/電、5%、10%誤(wu)差(cha)曲(qu)線(xian)、準(zhun)確(que)限(xian)值(zhi)系數(ALF)、儀(yi)表保安系數(FS)、二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數(Ts)、剩(sheng)磁系數(Kr)、勵磁(ci)電感(gan)、剩(sheng)磁、飽和及(ji)不飽(bao)和電感(gan)等CT參(can)數。 ◆具有猜(cai)銘能(neng),對於(yu)丟失(shi)銘的(de)CT,自動(dong)給(gei)出(chu)CT類型(xing)(M、P)、變比、CT別(bie)、ALF、FS、額定負荷(he)。 ◆用戶(hu)可以根(gen)據需(xu)要(yao)選擇(ze)十組(zu)勵磁(ci)數據行(xing)保(bao)存 ◆自動(dong)給出(chu)在1%-300%額定電的(de)情況(kuang)下,變比誤(wu)差(cha)與相(xiang)位(wei)誤差列表,自動對試驗(yan)數據行(xing)化(hua)整(zheng)或修約。 ◆儀(yi)器自(zi)動(dong)記(ji)憶(yi)測(ce)試能(neng)選項(xiang)、報(bao)告選項(xiang)、報(bao)告設(she)置(zhi)選(xuan)項(xiang),提(ti)使用效率 ◆測(ce)試結(jie)果(guo)可直接(jie)在本機生(sheng)成EXCEL報(bao)告並可(ke)直接(jie)查(zha)看(kan)、打(da)印,儀(yi)器內(nei)可(ke)保(bao)存上條報(bao)告 ◆測(ce)試結(jie)果(guo)可用U盤導(dao)出(chu),程序可用(yong)U盤升,方便快捷 ◆配有後(hou)臺(tai)分析軟(ruan)件,方便測(ce)試報(bao)告的(de)保存(cun)、轉換、分析,可(ke)以用(yong)於(yu)試驗(yan)數據的(de)對比(bi)、判斷與評估(gu)。 ◆可(ke)按(an)照(zhao)選定標準(zhun)行(xing)自(zi)定義測(ce)試 ◆能(neng)夠(gou)成PT能(neng)的(de)測(ce)試:變比、性、伏安性 2.智(zhi)能(neng)電導(dao)鹽(yan)密測(ce)試儀(yi) 電(dian)導(dao)鹽(yan)密檢測(ce)儀(yi) 鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)、 鹽(yan)密儀(yi) 型(xing)號(hao):HT-YM-H
HTYM-H智(zhi)能(neng)電導(dao)鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)也稱為(wei)直讀(du)式等值鹽(yan)密度(du)測(ce)試儀(yi),專(zhuan)為(wei)測(ce)試絕緣子等值鹽(yan)密度(du)而(er)設(she)計。系(xi)統內(nei)置(zhi)絕緣子等值鹽(yan)密度(du)計算(suan)公式,讀(du)數直觀。使(shi)用旋轉鼠標,操作(zuo)簡(jian)單。此智(zhi)能(neng)電導(dao)鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)自帶(dai)微型(xing)打(da)印機,方便數據保(bao)留(liu)和對比。大屏(ping)幕(mu)液晶(jing)顯示(shi),所(suo)有參(can)數和結(jie)果(guo)壹目了然。內(nei)置(zhi)大(da)容量鋰電(dian)池(chi),方便野(ye)外(wai)現(xian)場(chang)測(ce)試。 智(zhi)能(neng)電導(dao)鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)遵照(zhao)GB/T16434—1996《高(gao)壓架空(kong)線路(lu)和發電廠(chang)、變電所(suo)環境(jing)汙區(qu)分級及(ji)外(wai)絕緣選(xuan)擇標準(zhun)》的(de)規定和要求,適用(yong)於(yu)高線(xian)架(jia)空(kong)線路(lu)、發(fa)電廠(chang)、變電所(suo)等場(chang)所(suo)的(de)外(wai)絕緣設(she)備鹽(yan)密度(du)測(ce)試。 產(chan)品別(bie)稱智(zhi)能(neng)電導(dao)鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)、鹽(yan)密測(ce)試儀(yi)、 鹽(yan)密儀(yi) 產(chan)品特(te)征(zheng)1、 直讀(du)式,絕緣子表面(mian)鹽(yan)密度(du)直接(jie)顯(xian)示
3.臺(tai)式塗(tu)膜(mo)機/實驗(yan)室(shi)小型(xing)塗布機 型(xing)號(hao):HAD-TB100 本機專(zhuan)用(yong)於(yu)鋰離(li)子電池(chi)正、負(fu)極(ji)片(pian)連續(xu)塗敷(fu)工序,適用(yong)於(yu)適合(he)高(gao)等院校及(ji)企業(ye)小規模(mo)實驗(yan)使用(yong);也可(ke)用於陶(tao)瓷類(lei)薄(bo)膜(mo)、晶(jing)體(ti)類(lei)薄(bo)膜(mo)、特(te)殊(shu)納(na)米(mi)薄(bo)膜(mo)等;機身全(quan)部采(cai)用(yong)不銹(xiu)鋼(gang)材質,美觀、耐(nai)用(yong),表面(mian)噴塑(su)處理(li),操作(zuo)簡(jian)便。
4.熱真空(kong)全脫分析儀(yi)/熱真空(kong)蒸餾脫氣器 型(xing)號(hao):HAD-G01 壹(yi)、產(chan)品特(te)點:
5.渦(wo)旋振(zhen)蕩(dang)儀(yi)/混(hun)勻(yun)器(qi)/渦(wo)旋振(zhen)蕩(dang)器 型(xing)號(hao):HAD-TM1F 微電(dian)腦(nao)轉速(su)控(kong)制(zhi)器,直流電(dian)極(ji)驅(qu)動(dong),保證轉速(su)的(de)恒定
主(zhu)要特(te)點:
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