1.導電微(wei)晶靜電場(chang)描(miao)繪儀(yi)HAD/GVZ-3

靜電場(chang)描(miao)繪實驗儀(yi)/靜電場(chang)描(miao)繪試驗儀(yi)/導電微(wei)晶靜電場(chang)描(miao)繪儀(yi)主(zhu)要參數(shu)：

1.HAD/GVZ-3型為(wei)雙(shuang)層(ceng)，同步探針(zhen)，內(nei)置(zhi)四種(zhong)電板（同心圓(yuan)、平行導線(xian)、聚焦、劈尖形或飛(fei)機機(ji)翼電場(chang)）。

2.規(gui)格(ge)為(wei)410mm*240mm,100mm,K4-2導線(xian)。

3.微(wei)晶導電層(ceng)的(de)均勻(yun)性，實驗值誤差為(wei)小(xiao)於(yu)2%。

4.電源(yuan)輸(shu)出範(fan)圍(wei)（直(zhi)）為(wei)7.00v—13.00V，分(fen)辨(bian)率為(wei)0.01V。HAD/GVZ-3.采(cai)用多(duo)圈電位(wei)器(qi)調節(jie)電壓(ya)，調節(jie)細度(du)可(ke)達(da)0.01V。

四(si)種(zhong)電（配(pei)數(shu)碼(ma)管電源(yuan)3位半(ban)）

（同心圓(yuan)R為(wei)7cm，r為(wei)1cm, 其(qi)他(ta)電距(ju)離(li)均為(wei)10cm）

1． 靜(jing)電場(chang)描(miao)繪實驗儀(yi)/靜電場(chang)描(miao)繪試驗儀(yi)/儀(yi)器簡(jian)介(jie)

本儀(yi)器采(cai)用各(ge)向均勻(yun)導電的(de)微(wei)晶導電板,在(zai)其上(shang)面(mian)安置(zhi)些(xie)不(bu)同的金(jin)屬電。當有(you)直(zhi)電經(jing)兩(liang)個電在(zai)導電板上(shang)通(tong)過時(shi)，由(you)於(yu)微(wei)晶導電板相對於(yu)金屬導體電導率低得(de)多，故在(zai)兩個電間沿電線(xian)會(hui)存在(zai)不(bu)同的電勢(shi)，這種(zhong)不(bu)同的電勢(shi)可用(yong)數(shu)字(zi)電壓(ya)表直(zhi)接(jie)測出(chu)來(lai)。分析各(ge)測量(liang)點電勢(shi)的變(bian)化(hua)規(gui)律，就可(ke)間接(jie)地(di)得(de)知(zhi)相(xiang)似(si)的(de)靜電場(chang)中電勢(shi)分布規律(lv)。

2．使用(yong)方法

（1）接(jie)線(xian)：

靜電場(chang)用(yong)穩(wen)壓(ya)電源(yuan)輸(shu)出+（紅）接(jie)線(xian)柱用紅(hong)色電線(xian)連接(jie)描繪架（紅）、-（黑(hei)）接(jie)線(xian)柱用黑(hei)色電線(xian)連接(jie)描繪架（黑(hei)）接(jie)線(xian)柱。用穩(wen)壓(ya)電源(yuan)探針(zhen)輸(shu)入(ru)+（紅(hong)色）接(jie)線(xian)柱用紅(hong)色電線(xian)連接(jie)探針(zhen)架連接(jie)線(xian)柱。將(jiang)探針(zhen)架好(hao)，並使探針(zhen)下(xia)探頭置(zhi)於(yu)導電微(wei)晶電上(shang)，啟(qi)動開(kai)關(guan)，校(xiao)正，後(hou)測量(liang)。

（2）測量(liang)：

開(kai)啟(qi)測量(liang)開(kai)關(guan)，如(ru)數(shu)字(zi)顯(xian)字(zi)為(wei)0 V，則(ze)移(yi)動探針(zhen)架至(zhi)另(ling)電上(shang)，數(shu)字(zi)顯(xian)10 V，般常用10 V，便(bian)於(yu)運算(suan)。然後(hou)縱(zong)橫移(yi)動探針(zhen)架，則電源(yuan)電壓(ya)表頭顯(xian)示(shi)讀(du)數(shu)隨(sui)著運動而(er)變(bian)化(hua)。如(ru)要測0 V～10 V間的何條(tiao)等(deng)勢(shi)(位)線(xian)，般可選0 V～10 V間某電壓(ya)數(shu)據(ju)相(xiang)同的8～10個點，再(zai)將(jiang)這些(xie)點連成光滑的曲(qu)線(xian)即可(ke)得(de)到此(ci)等勢(shi)(位)線(xian)。

（3）記(ji)錄：

實驗報告(gao)都需(xu)要記(ji)錄，以(yi)備(bei)學(xue)生計算或驗證(zheng)，對(dui)模(mo)擬(ni)法作深(shen)刻研究，則需(xu)在(zai)描繪架上(shang)鋪平白(bai)紙(zhi)，用(yong)橡(xiang)膠(jiao)磁條(tiao)吸(xi)住(zhu)，當表(biao)頭顯(xian)示(shi)讀(du)數(shu)認為(wei)需(xu)要記(ji)錄時(shi)，輕輕按(an)下，即(ji)能清(qing)晰記(ji)下小(xiao)點，般所(suo)需(xu)記(ji)錄電壓(ya)請(qing)參閱(yue)講義或(huo)由(you)課(ke)教師定(ding)奪(duo)，為(wei)實驗清晰快(kuai)捷，每等(deng)位線(xian)8～10點，然後連接(jie)即可(ke)。

2.汙手動塗(tu)敷器(qi)/薄層(ceng)制板器/薄層(ceng)鋪板器  型號(hao)：HAD-III

薄層(ceng)手動塗(tu)敷器(qi)/手動塗(tu)敷器(qi)/薄層(ceng)制板器/薄層(ceng)鋪板器  , 共有(you)三(san)種(zhong)型號(hao) :

HAD-I 型為(wei)塗(tu)敷 10cm 寬(kuan)薄層(ceng)板，配有(you)個小(xiao)型 10cm

寬(kuan)塗(tu)敷框(kuang)，制備(bei)5x10,10x10,20×10cm薄(bo)層(ceng)板

HAD-II 型為(wei)塗(tu)敷 20cm 寬(kuan)薄層(ceng)板，配有(you)個大(da)型 20cm

寬(kuan)塗(tu)敷框(kuang)，制備(bei)板規格(ge)為(wei) 5 × 20 、10 × 20

20 ×20cm 薄(bo)層(ceng)板。

HAD-III 塗(tu)敷器(qi) 綜合(he)了 I 型和 II 型的(de)優點和結(jie)構方式,

配(pei)有(you)大小(xiao)兩(liang)種(zhong)塗(tu)敷框(kuang)，在(zai)個塗(tu)板座上(shang)

可(ke)成上(shang)述各種(zhong)規(gui)格(ge)薄層(ceng)板的制備(bei)作 薄(bo)層(ceng)板均能塗(tu)敷

材(cai)質：鋁合金(jin)噴塑，*生銹(xiu)，經(jing)久(jiu)耐用。。塗(tu)敷框(kuang)可調(tiao)層(ceng)厚(hou)度(du)0.02-2mm

3.壓(ya)電加速(su)度(du)傳感(gan)器/壓(ya)電式壓(ya)力(li)傳感(gan)器  型號(hao):HAD/8602

4.數(shu)字(zi)式自(zi)動旋光(guang)儀(yi)/自動旋光(guang)儀(yi)  型號(hao):HAD-WZZ-3

點：采(cai)用光(guang)電檢(jian)測和微(wei)機(ji)控(kong)制，128X64位元(yuan)液(ye)晶顯(xian)示(shi)，可(ke)測試(shi)比旋度(du)、旋光(guang)度(du)、糖度(du)、可(ke)自(zi)動復(fu)測並計算均值和均(jun)方根(gen)，配(pei)有(you)RS232接(jie)口(kou)，可向PC機傳送數(shu)據(ju)。

參數(shu)：

測量(liang)範(fan)圍(wei)：-45°~ +45°，-120°Z ~ +120°Z

小讀(du)數(shu)值(zhi)：0.001°

準(zhun)確(que)度(du)：±（0.01°+測量(liang)值×0.05%），±（0.03°Z+測量(liang)值×0.05%）

重(zhong)復性(xing)：≤0.003°，≤0.03°Z

可測樣(yang)品低透(tou)過(guo)率：10%

1、光(guang)源(yuan)/LED發(fa)光(guang)二(er)管+幹涉(she)濾(lv)光(guang)片  波長(chang)589.44nm，壽(shou)命(ming)大於(yu)20000小時(shi)；

測量(liang)模(mo)式:旋光(guang)度(du),比(bi)旋度(du),濃度(du),糖度(du)  

2、采(cai)用數(shu)字(zi)電路(lu)及(ji)微(wei)機(ji)控(kong)制，大屏幕背光(guang)液(ye)晶顯(xian)示(shi)，數(shu)據(ju)清(qing)晰直(zhi)觀(guan)。

3、可測試(shi)旋光(guang)度(du)、比(bi)旋度(du)、濃度(du)和糖度(du)，自(zi)動復(fu)測（1～6測可(ke)選），並自動計算平均(jun)值(zhi)和均(jun)方根(gen)。配(pei)有(you)RS232接(jie)口(kou)，可向PC機傳送數(shu)據(ju)。

4、測量(liang)範(fan)圍(wei)：-45°～ +45°；-120°Z～+120°Z（糖度(du)）。小(xiao)讀(du)數(shu)值(zhi): 0.001°；0.001°Z

5、準(zhun)確(que)度(du):±（0.01°+測量(liang)值×0.05%）；準(zhun)確(que)度(du):±（0.03°Z+測量(liang)值×0.05%）

6、重(zhong)復性(xing):≤0.003°；重(zhong)復性(xing):≤0.009°Z

7、可測樣(yang)品低透(tou)過(guo)率:10%

儀(yi)器等:0.05   重(zhong)量(liang):25kg

儀(yi)器尺(chi)寸(cun):600mm*330mm*270mm

5.電腦查片(pian)儀(yi)/焦度(du)計/查片計 型號(hao)：HACL-300

新(xin)型紫(zi)外(wai)線(xian)測量(liang)能，為(wei)眼鏡佩(pei)戴(dai)者(zhe)和驗(yan)光師提(ti)供綜(zong)合數(shu)據(ju)

*    采(cai)用符(fu)合(he)IS7944規(gui)格(ge)的綠色測量(liang)光譜，ABBE補(bu)償(chang)

*    新(xin)型白(bai)色墨水(shui)，在(zai)具有(you)防(fang)汙和防(fang)霧鍍(du)膜(mo)的(de)鏡(jing)片(pian)上(shang)，也(ye)能行清晰標記(ji)

*    新(xin)穎(ying)的(de)鏡片(pian)支架，防(fang)止彎(wan)度(du)鏡(jing)片(pian)的(de)邊緣鏡(jing)片支(zhi)架產(chan)生不(bu)的磕碰